(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123452679.2 (22)申请日 2021.12.31 (73)专利权人 浙江金池科技有限公司 地址 312000 浙江省绍兴 市袍江新区荷湖 路3号7幢 (72)发明人 凌舞　金林升　 (74)专利代理 机构 北京维正专利代理有限公司 11508 专利代理师 冯彬 (51)Int.Cl. G01R 31/327(2006.01) G01R 1/04(2006.01) (54)实用新型名称 一种薄膜开关功能测试装置 (57)摘要 本申请涉及一种薄膜 开关功能测试装置， 其 包括基架和固定安装于基架内的基座， 基座开设 有用于容纳薄膜开关的定位槽， 基架设置有升降 架以及用于调节升降架高度位置的升降件， 升降 架内设置有基板， 基板上穿设有测试柱。 本申请 通过设置基架、 基座、 升降架以及升降件， 且在基 座内开设用于定位薄膜开关的定位槽、 在升降架 内设置基板以及穿设于基板的测试柱， 升降件只 改变测试柱的高度位置而不改变测试柱的水平 位置， 工作人员通过测试柱按压薄膜开关， 尽可 能使得每一次按压薄膜开关的位置保持不变， 从 而提高测试稳定性。 权利要求书1页 说明书5页 附图7页 CN 217181149 U 2022.08.12 CN 217181149 U 1.一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 包括基架 （100） 和固定安装于基架 （100） 内的基座 （200） ， 所述基座 （200） 开设有用于容纳薄膜开关的定位槽 （210） ， 所述基架 （100） 设置有升降架 （400） 以及用于调节升降架 （400） 高度位置的升降件 （500） ， 所述升降架 （400） 内设置有基板 （3 00） ， 所述基板 （3 00） 上穿设有测试柱 （6 00） 。 2.根据权利要求1所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述测试柱 （600） 设置有复位弹簧 （610） 和封块 （620） ， 所述复位弹簧 （610） 一端与所述基板 （300） 相抵， 所述 复位弹簧 （610） 一端与封块 （620） 相抵 。 3.根据权利要求2所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述封块 （620） 通 过第一螺 栓 （630） 固定连接 于所述测试柱 （6 00） 。 4.根据权利要求1所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述升降架 （400） 靠近所述定位槽 （210） 的一侧设置有定位块 （411） ， 所述定位块 （411） 与所述定位槽 （210） 卡 接配合。 5.根据权利要求1所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述升降架 （400） 设置有导向块 （720） ， 所述基架 （100） 内设置有导向板 （740） ， 所述导向块 （720） 开设有导向 槽 （721） ， 所述 导向槽 （721） 与所述 导向板 （740） 卡接配合。 6.根据权利要求5所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述导向板 （740） 上开设有限位槽 （741） ， 所述导向块 （720） 上设置有限位块 （722） ， 所述限位块 （722） 位于所 述导向槽 （721） 内， 所述限位 块 （722） 与所述限位槽 （741） 滑 移连接。 7.根据权利要求6所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述导向块 （720） 通过第二螺栓 （710） 固定连接于所述升降架 （400） ， 所述导向板 （740） 通过第三螺栓 （730） 固 定连接于所述基架 （10 0） 。 8.根据权利要求1所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述基架 （100） 内 开设有若干安装槽 （111） ， 所述安装槽 （111） 内设置有弹簧 （112） ， 所述基座 （200） 固定连接 有第一限位柱 （220） ， 所述第一限位柱 （220） 位于所述安装槽 （111） 内， 且所述弹簧 （112） 套 设于所述第一限位柱 （2 20） 。 9.根据权利要求8所述的一种薄膜开关功能测试装置， 其特征在于： 所述基架 （100） 上 设置有第二限位柱 （113） ， 所述基座 （200） 开设有第二限位孔 （230） ， 所述第二限位柱 （113） 与所述第二限位 孔 （230） 插接配合。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217181149 U 2一种薄膜开关功能测试装 置 技术领域 [0001]本申请涉及薄膜开关的领域， 尤其是 涉及一种膜片开关功能测试装置 。 背景技术 [0002]薄膜开关是集按键功能、 指示元件、 仪器面板为一体的一个操作系统， 广 泛应用于 电子通讯、 工业控制以及汽车工业 等领域。 [0003]薄膜开关一般由四部分组成， 至上而下分别为控制面板、 上电路、 隔离层以及下电 路。 薄膜开关在生产后需要对其的开关功能进行测试， 尽可能避免残次品流出。 工作人员按 下薄膜开关， 上电路的触点向下变形， 与下电路的极板接触， 电路导通， 手指松 开后， 上电路 触点反弹， 电路断开， 回路触发一个信号。 [0004]一种薄膜开关的测试装置， 如图1所示， 包括基架100， 基架100内固定连接有基座 200， 基座200背离基架100的一侧开设有用于容纳薄膜 开关的定位槽210， 基架100固定连接 有升降件500,升降件500固定连接有升降架400。 升降架400上固定连接有基板300， 基板300 上开设有测试通 孔301。 [0005]使用时， 工作人员将薄膜开关放置于定位槽210内， 通过控制升降件500， 使得升降 架400向靠近定位槽210的方向运动， 直至升降架400将薄膜 开关抵紧。 工作人员的手指穿过 测试通孔301并按压在薄膜开关上， 从而完成对薄膜开关的开关功能的测试。 [0006]针对上述中的相关技术， 申请人认为， 以手指按压薄膜开关的方式， 来对薄膜开关 的开关功能进行测试， 工作人员手指按压的位置一定程度上很难维持固定， 测试 的稳定性 不高。 实用新型内容 [0007]为了改善工作人员对薄膜开关的开关功能进行测试时， 手指按压的位置很难维持 固定， 导致测试的稳定性 不高的问题， 本申请提供一种薄膜开关功能测试装置 。 [0008]本申请提供的一种薄膜开关功能测试装置， 采用如下的技 术方案： [0009]一种薄膜开关功能测试装置， 包括基架和固定安装于基架内的基座， 所述基座开 设有用于容纳薄膜开关的定位槽， 所述基架设置有升降架以及用于调节升降架高度位置的 升降件， 所述升降架内设置有基板， 所述基板上穿设有测试柱。 [0010]通过采用上述技术方案， 工作人员将薄膜开关放置于定位槽内， 再通过升降件调 节升降架的高度位置， 即调节基板的高度位置， 使得基板以及测试柱向靠近薄膜开关的方 向运动， 工作人员通过测试柱按压薄膜开关从而完成测试。 [0011]首先， 薄膜开关位于定位槽内， 薄膜开关的位置确定， 其次， 测试柱相对于基板 的 位置确定， 且升降件只调节基板的高度位置， 即测试柱的水平位置尽可能保持不变， 即测试 柱每一次按压薄膜开关的位置尽可能保持不变， 从而起到提高测试 稳定性的作用。 [0012]可选的， 所述测试柱设置有复位弹簧和封块， 所述复位弹簧一端与所述基板相抵， 所述复位弹簧 一端与封块相抵 。说　明　书 1/5 页 3 CN 217181149 U 3