(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211333463.0 (22)申请日 2022.10.28 (71)申请人 苏州西门子电器有限公司 地址 215129 江苏省苏州市苏州新区珠 江 路455号 (72)发明人 葛威　石佳鑫　俞楠　 (51)Int.Cl. G06Q 10/06(2012.01) G06Q 50/06(2012.01) (54)发明名称 电寿命的评估方法、 装置、 计算机可读介质 及电子设备 (57)摘要 本发明提供了电寿命的评估方法、 装置、 计 算机可读介质及电子设备， 用于评估接触器中金 属材料触点的电寿命。 所述电寿命的评估方法包 括： 读取所述触点于不同使用类别中产生的触点 工作参数； 所述不同使用类别包括接触过程和/ 或分断过程； 根据所述触点工作参数分析触点的 电寿命评估指标； 通过所述触点的电寿命评估指 标评估触点的电寿命。 基于上述方案， 能够通过 量化数据来评估接触器中触点的电寿命， 对提升 产品的电寿 命能力有着巨大的作用。 权利要求书2页 说明书9页 附图4页 CN 115526540 A 2022.12.27 CN 115526540 A 1.一种电寿命的评估方法， 用于评估接触器中金属材料触点的电寿命； 所述电寿命的 评估方法包括： 读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数； 所述不同使用类别包括接触过 程和/或分断过程； 根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标； 通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。 2.根据权利要求1所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数， 包括： 读取所述触点于 接触过程中产生的触点工作参数； 和/或 读取所述触点于分断过程中产生的触点工作参数。 3.根据权利要求2所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数包括触点处于接触过程中产生的压降 值、 触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段； 其中， 触点处于接触过程中产 生的压降值包括触点处于 接触过程中产生的单点弹跳 压降值或双点弹跳 压降值； 所述触点处于分断过程中产生的触点工作参数包括触点处于分断过程中产生的压降 值、 触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段。 4.根据权利要求3所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 触点的电寿命评估指标包括触点 抗熔焊性的电寿命评估指标； 当读取到的触点工作参数是所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数时， 根据 所 述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标， 包括： 根据单点弹跳压降值或双点弹跳压降值， 选取与之对应的触点处于接触过程的典型电 压值； 其中， 与单点弹跳压降值或双点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值 由触点金属材 料的化学 特性确定； 根据触点处于接触过程的典型电压值、 触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压 降时间段分别计算各压降时间段对应的触点 抗熔焊性的电寿命子 评估指标； 将各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标进行累加， 形成触点抗熔焊 性的电寿命评估指标。 5.根据权利要求 4所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 触点的电寿命评估指标包括还 包括触点 抗烧蚀性的电寿命评估指标； 当读取到的触点工作参数是所述触点于分 断过程中产生的触点工作参数时， 根据 所述 触点工作参数分析触点的电寿命评估指标， 包括： 根据触点处于分断过程中产生的压降值确定与之对应的典型电压值； 其中， 与触点处 于分断过程中产生的压降值对应的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定； 根据触点 处于分断过程的典型电压值、 触点处于 分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别 计算各压降时间段对应的触点 抗烧蚀性的电寿命子 评估指标； 将各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标进行累加， 形成触点抗烧蚀 性的电寿命评估指标。 6.根据权利要求5所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标的计算方式可以采用计算触权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115526540 A 2点在接通过程中各压降时间段的热能量的方式； 其中， 根据焦耳热的计算 公式， 计算触点在 接通过程中各压降时间段的热能量； 各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标的计算方式可以采用计算触 点在分断过程中各压降时间段的热能量的方式； 其中， 根据焦耳热的计算 公式， 计算触点在 各压降时间段的热能量。 7.根据权利要求 4所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 计算触点在接通过程中各压降时间段的热能量的焦耳 热计算公式为： 其中， 表示触点在接通过程中压降时间段tn‑ tn+1的热能量， U1表 示与单点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值， U2表 示与 双点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值， i(t)表 示触点处于接触过程中压 降时间段tn‑tn+1产生的电流， n大于等于1， 且n 为奇数； m表示接通过程； 计算触点在分断过程中各压降时间段的热能量的焦耳 热计算公式为： 其中， 表示触点在分断过程中压降时间段tn‑tn+1的热能 量， U3表示与触点处于分断过程中产生的压降值对应的典型电压值， i(t)表示触点处于分 断过程中压降时间段tn‑tn+1产生的电流， n大于等于1， 且n 为奇数； b表示分断过程。 8.根据权利要求5所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命， 包括： 将触点抗熔焊性的电寿命评估指标与预设抗熔焊性评估指标进行比较， 当触点抗熔焊 性的电寿命评估指标大于预设抗熔焊性评估指标时， 则表示触点的抗熔焊性越差， 触点的 电寿命短。 9.根据权利要求7 所述的电寿命的评估方法， 其特 征在于， 通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命， 还 包括： 将触点抗烧蚀性的电寿命评估指标与预设抗烧蚀性评估指标进行比较， 当触点抗烧蚀 性的电寿命评估指标大于预设抗烧蚀性评估指标时， 则表示触点的抗烧蚀性差， 触点的电 寿命短。 10.一种电寿命的评估 装置， 包括： 读取模块， 用于读取所述触点于不同使用类别 中产生的触点工作参数； 所述不同使用 类别包括接触过程和/或分断过程； 分析模块， 用于根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标； 评估模块， 用于通过 所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。 11.一种计算机可读介质， 所述计算机可读介质上存储有计算机可读指令， 所述计算机可读指令在被处理器执行 时， 使所述处 理器执行如权利要求1～ 9任一项所述的电寿命的评估方法中的步骤。 12.一种电子设备， 包括： 至少一个存 储器， 被配置为存 储计算机可读代码； 至少一个处理器， 被配置为调用所述计算机可读代码， 执行如权利要求1～9任一项所 述的电寿命的评估方法中的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115526540 A 3