(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221202774.9 (22)申请日 2022.05.19 (73)专利权人 杭州利珀科技有限公司 地址 311305 浙江省杭州市临安区青山湖 街道大园路723号越秀星汇中心20层 2001室 (72)发明人 沈家麒　武小龙　陈嘉文　颜浩　 桑鑫华　 (74)专利代理 机构 上海世圆知识产权代理有限 公司 31320 专利代理师 顾俊超 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统 (57)摘要 本实用新型公开一种晶硅电池片透射式隐 裂缺陷检测系统， 用于检测待检区域的晶硅电池 片的隐裂缺陷， 包括： 固定机架、 正透隐裂缺陷检 测装置、 斜透隐裂缺陷检测装置、 红外光源。 所述 正透隐裂缺陷检测装置包括： 第一连接横梁、 第 一红外相机。 所述斜透隐裂缺陷检测装置包括： 第二连接横梁、 第二红外相机。 本实用新型的有 益效果在于： 能够实现正透隐裂缺陷检测及斜透 隐裂缺陷检测。 权利要求书1页 说明书3页 附图3页 CN 218157585 U 2022.12.27 CN 218157585 U 1.一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统， 用于检测待检区域的晶硅电池片的隐裂 缺陷， 其特征在于， 包括： 固定机架、 正透隐裂缺陷检测装置、 斜透隐裂缺陷检测装置、 红外 光源； 所述固定机架包括： 机架左立柱、 机架右立柱、 左立柱后横梁、 右立柱后横梁， 所述机 架左立柱与所述左立柱后 横梁相固定连接， 所述机架右 立柱与所述右立柱后横梁相固定连 接； 所述正透隐裂缺陷检测装置包括： 第一连接横梁、 第一红外相机， 所述第一连接横梁固 定连接在所述机架左立柱与所述机架右 立柱间， 所述第一红外相机固定连接在所述第一连 接横梁且位于所述待检区域正上方， 所述第一红外相 机的拍摄方向系 竖向向下， 使得所述 第一红外相 机的视场能够覆盖所述待检区域； 所述斜透隐裂缺陷检测装置包括： 第二连接 横梁、 第二红外相 机， 所述第二连接横梁固定连接在所述左立柱后横梁与所述右立柱后横 梁间， 所述第二红外相 机固定连接在所述第二连接横梁且位于所述待检区域后上方， 所述 第二红外相机的拍摄方向系向前下方， 使得所述第二红外相机的视场能够覆盖所述待检区 域； 所述红外光源位于所述待检区域正下方， 所述红外光源的光源方向系竖向向上， 使得所 述红外光源能够覆盖所述待检区域。 2.根据权利要求1所述的一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统， 其特征在于， 所述 斜透隐裂缺陷检测装置还包括： 拍摄背 景板， 所述拍摄背景板位于所述待检区域前下方， 所 述拍摄背景板相对于所述第二红外相机 。 3.根据权利要求1或2所述的一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统， 其特征在于， 所述左立柱后 横梁垂直于所述机架左立柱且向后方向延伸， 所述右 立柱后横梁垂直于所述 机架右立柱且向后方向延伸， 所述左立柱后横梁与所述右立柱后横梁处于同一水平 平面。 4.根据权利要求1或2所述的一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统， 其特征在于， 所述红外光源是条形光源， 所述红外光源固定连接在所述机架左立柱与所述机架右立柱 间。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218157585 U 2一种晶硅电池片透 射式隐裂缺陷检测系统 技术领域 [0001]本实用新型涉及晶硅电池片检测领域， 特别地是， 一种晶硅电池片透射式隐裂缺 陷检测系统。 背景技术 [0002]晶硅电池片的质量直接决定光伏能源的光电转换效率。 因此， 检测晶硅电池片的 质量是非常必要的。 晶硅电池片在生产过程中容易产生隐裂缺陷。 所述生产过程包括但不 限于： 硅棒在经过金刚线切割成原硅片的过程、 原硅片由硅料企业运往电池片企业的过程， 原硅片在制程电池片的过程。 [0003]中国实用新型专利CN207502443U公告的 “太阳能光伏组件电池片缺陷检测仪 ”， 包 括： 输送机、 辊轴， 输送机包括一辊轴室； 辊轴室一面的两侧均固定有两个限位柱； 辊轴室两 侧均布开设有一通孔； 辊轴两端均固定有一转轴； 转轴与通孔转动配合； 辊轴室两侧固定有 一立柱； 一立柱通过一横杆与另一立柱固定； 横杆上固定有一电动推杆； 电动推杆的输出端 固定有一检测装置； 检测装置结构为一箱体； 箱体内固定有一红外相机。 上述技术方案的缺 点在于， 所述红外相 机的数量仅为一个且拍摄方向向下且垂直于晶硅电池片， 即所述检测 仪仅能够实现正透隐裂 检测而无法实现斜透隐裂 检测。 实用新型内容 [0004]本实用新型是要解决现有技术中晶硅电池片仅能够实现正透隐裂检测的问题， 提 供一种新型的 晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统。 [0005]为了实现这一目的， 本实用新型的技术方案如下： 一种晶硅电池片透射式隐裂缺 陷检测系统， 用于检测待检区域的晶硅电池片的隐裂缺陷， 包括： 固定机架、 正透隐裂缺陷 检测装置、 斜透隐裂缺陷检测装置、 红外光源； 所述固定机架包括： 机架左立柱、 机架右立 柱、 左立柱后横梁、 右立柱后横梁， 所述机架左立柱与所述左立柱后横梁相固定连接， 所述 机架右立柱与所述右立柱后横梁相固定连接； 所述正透隐裂缺陷检测装置包括： 第一连接 横梁、 第一红外相机， 所述第一连接横梁固定连接在所述机架左立柱与所述机架右 立柱间， 所述第一红外相机固定连接在所述第一连接横梁且位于所述待检区域正上方， 所述第一红 外相机的拍摄方向系 竖向向下， 使得所述第一红外相 机的视场能够覆盖所述待检区域； 所 述斜透隐裂缺陷检测装置包括： 第二连接横梁、 第二红外相机， 所述第二连接横梁固定连接 在所述左立柱后横梁与所述右立柱后 横梁间， 所述第二红外相机固定连接在所述第二连接 横梁且位于所述待检区域后上方， 所述第二红外相 机的拍摄方向系向前下方， 使得所述第 二红外相 机的视场能够覆盖所述待检区域； 所述红外光源位于所述待检区域正下方， 所述 红外光源的光源方向系竖向 向上， 使得 所述红外光源能够覆盖所述待检区域。 [0006]作为一种晶硅电池片透射式隐裂缺陷检测系统的优选方案， 所述斜透隐裂缺陷检 测装置还包括： 拍摄背 景板， 所述拍摄背 景板位于所述待检区域前下方， 所述拍摄背 景板相 对于所述第二红外相机 。说　明　书 1/3 页 3 CN 218157585 U 3