测控设备抗干扰能力测试平台校准规范 Calibration Specification for Anti jamming Capability Testing Platform of Telemetry and Telec ontrol Equipment 2025－06－05实施 北京电子仪器行业协会 发 布 中国团体标 准 T/BEA.40003－2025 2025－06－05发布 全国团体标准信息平台 全国团体标准信息平台 T/BEA.40003－2025 I 前 言 本标准由北京东方计量测试研究所 提出。 本标准由 北京电子仪器行业协会 归口。 本标准主要起草单位： 北京东方计量测试研究所 。 本标准参与起草单位： 北京信息科技大学 、北京理工大学 。 本标准主要起草人： 贾冬宇、于伟华、徐圣法、徐春鹏、傅雄军、孙厚军、邓长江、李爽玉、李千 惠、郑日新、郭会平 。 全国团体标准信息平台 T/BEA.40003－2025 2 测控设备抗干扰能力测试平台校准规范 1 范围 本标准规定了测控设备抗干扰能力测试平台的校准条件、校准项目、校准方法 等方面的要求 。 本标准适用于测控设备抗干扰能力测试平台的校准。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是标注日期的引用文件，日期的版本适用于本文件， 凡是不标注日期的引用文件，其最新版本 (包括所有的修改单 )适用于本文件。 JJF 1001 通用计量术语及定义 JJF 1188 -2008 无线电计量名词术语及定义 GJB 3756A -2015 测量不确定度的表示及评定 3 概述 测控设备抗干扰能力测试平台具备接收、输出宽频干扰信号能力，重点解决信号接收、分析、记录 和模拟干扰信号输出的问题。平台可完成对 测控设备 抗干扰能力的测试验证，也可用于电磁环境测试、 干扰排查等场景。 测控设备抗干扰能力测试平台由系统硬件主机和主机软件组成，系统组成框图如 图1所示。 （1）系统硬件主机：系统接收，主要完成输入射频信号的接收、下变频，变成数字信号，进行频谱 分析、采集存储、信号识别等功能，并将分析的结果进行显示和记录；系统发射，生成自主编辑的干扰 信号或使用存储的信号构建干扰数据，完成数模转换，并经过上变频以及功率放大等处理后进行信号发 射。 （2）主机软件：运行在 CPU和GPU之上，主要完成系统的配置及控制，采集信号的分析、处理、 记录、显示，发射信号的回放管理或信号编辑，记录数据的事后分析处理等功能。 记录、显示，发射信 号的回放管理或信号编辑，记录数据的事后分析处理等功能。 系统硬件主机 主机软件时 钟 及 时 序 分 配 板远 程 通 信 模 块信 号 记 录 单 元射 频 下 变 频射 频 上 变 频射 频 本 振 电磁模拟 电磁感知 系统管理 频 谱 分 析调 制 信 号 识 别时 域 数 据 分 析 与 存 储单 音 干 扰噪 声 干 扰调 制 信 号 干 扰波 形 文 件 干 扰设 备 管 理系 统 管 理信 号 接 收 处 理 生 成 单 元主 控 板GPU 处 理 单 元功 放 板 图1 测控设备抗干扰能力测试平台组成框图 4 计量特性 全国团体标准信息平台 T/BEA.40003－2025 3 a）输出信号频率 频率范围： 30MHz~40GHz ； 频率准确度：± 1×10-7~±1×10-8。 b）测量信号频率 频率范围： 30MHz~40GHz ； 频率准确度：± 1×10-7~±1×10-8。 c）输出信号功率 功率范围： -20dBm~+10dBm ； 最大允许误差：± 0.5dB~±1dB。 d）测量信号功率 功率范围： -60dBm~0dBm ； 最大允许误差：± 0.5dB~±2dB。 5 校准条件 5.1 校准环境 环境温度： 20℃± 5℃； 环境湿度：≤ 80%； 供电电源：交流电压 220V±10V，频率 50Hz±1Hz； 其他：周围环境无影响系统正常工作的机械振动和电磁干扰。 5.2 校准用设备要求 校准用设备经过计量技术机构检定（校准），满足使用要求，并在使用有效期内，各校准用设备在 校准之前需要预热 30分钟以上。 表1 校准用设备清单 序号 仪器名称 性能指标 数量 1 微波信号源 输出频率范围：覆盖 30MHz~40GHz ； 参考时基：＜ 3×10-8/年； 频率设置分辨力： 0.001Hz； 输出功率范围： -130dBm~+30dBm ； 输出功率最大允许误差：± 0.6dB~±1.5dB； 输出功率分辨力： 0.01dB； 1台 2 频谱仪 测量频率范围：覆盖 30MHz~40GHz ； 分辨力带宽： 1Hz~10MHz ； 1台 3 功率计 （含功率传感器） 频率范围：覆盖 30MHz~40GHz ； 测量功率范围：覆盖 -60dBm~+10dBm ； 测量功率最大允许误差： 0.067dB~0.260dB （k=2）； 分辨力： 0.01dB； 1套 4 10MHz铷钟 老化率：＜ 5×10-10/年；＜ 5×10-11/月（连续工作 1个月）。 1台 6 校准项目和校准方法 6.1 校准项目 表2 校准项目表 序号 测试项目 1 外观及工作正常性检查 2 输出信号频率 3 测量信号频率 4 输出信号功率 5 测量信号功率 6.2 外观及工作正常性检查 全国团体标准信息平台 T/BEA.40003－2025 4 a）被校测控设备抗干扰能力测试平台应带有必要的附件； b）被校测控设备抗干扰能力测试平台 面板各按键、开关等应调节正常，不应有影响电气性能的机械 损伤； c）被校测控设备抗干扰能力测试平台通电后应能正常工作、显示清晰； d）被校测控设备抗干扰能力测试平台按照技术说明书要求（一般为 30分钟 ~60分钟）完成预热； e）检查结果计入附录 A表A.1。 6.3 输出信号频率的校准 a）校准连接 测控设备抗干扰能 力测试平台频谱仪输出 输入10MHz铷钟 参考时钟 图2 输出信号频率的校准连接图 b）校准步骤 1) 频谱仪外接铷钟作为外参考； 2) 设置测控设备抗干扰能力测试平台输出单音信号，输出频率 30MHz定频，输出功率 -10dBm； 3) 频谱仪使用 marker中的 counter模式，设置对应中心频点 30MHz，调整扫频宽度至合适位置， 分辨力带宽 1Hz，使用峰值搜索功能读出功率峰值处的频率值 f0，并计入附录 A表A.2； 4) 更改频率为 600MHz、2.3GHz、4GHz、8GHz、13GHz、20GHz、26GHz、40GHz，重复 2)~3) 步骤。 6.4 测量信号频率的校准 a）校准连接 微波信号源测控设备抗干扰能 力测试平台输出 输入10MHz铷钟 参考时钟 图3 测量信号频率的校准连接图 b）校准步骤 1) 微波信号源外接铷钟作为外参考； 2) 设置微波信号源输出单载波信号，输出频率 30MHz，输出功率为 -10dBm； 3) 设置测控设备抗干扰能力测试平台对应的中心频点 30MHz，合理设置分析带宽，读出识别到的 功率峰值处的频率值 f0，并计入附录 A表A.3； 4) 更改频率为 600MHz、2.3GHz、4GHz、8GHz、13GHz、20GHz、26GHz、40GHz，重复 2)~3) 步骤。 6.5 输出信号功率的校准 a）校准连接 全国团体标准信息平台 T/BEA.40003－2025 5 测控设备抗干扰能 力测试平台功率传感器输出 输入功率计 图4 输出信号功率的校准连接图 b）校准步骤 1) 对功率计和功率传感器进行校零与校准； 2) 设置测控设备抗干扰能力测试平台输出单音信号，输出频率 30MHz定频，输出功率 +10dBm； 3) 设置功率计通道对应的频率值 30MHz，读出频率值 P0，并计入附录 A表A.4； 4) 更改测控设备抗干扰能力测试平台输出频率为 2.3GHz、26GHz、40GHz，重复 2)~3)步骤； 5) 更改测控设备抗干扰能力测试平台输出功率为 0dBm、-10dBm、-20dBm，重复 2)~4)步骤。 6.6 测量信号功率 的校准 a）校准连接 微波信号源 功率传感器输出 输入功率计 图5a 标准功率计校准微波信号源输出功率 微波信号源输出 输入测控设备抗干扰能 力测试平台 图 5b 测量信号功率的校准 b）校准步骤 1) 对功率计和功率传感器进行校零与校准； 2) 微波信号源输出单载波信号至功率计，输出频率 30MHz，输出功率 0dBm； 3) 设置功率计通道频率值 30MHz，由功率计对微波信号源进行该频点下的 0dBm功率校准，调整 微波信号源输出功率至功率计示值为 0dBm，记录此时微波信号源输出功率值并计入附录 A表A.5； 4) 功率校准后，微波信号源输出设置保持不变，输入至测控设备抗干扰能力测试平台； 5) 设置测控设备抗干扰能力测试平台对应的中心频点 30MHz，合理设置分析带宽，读出识别到的 功率峰