ICS 31.040.30 L 15 SJ 备案号： 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11278.4.1—2014 电子设备用压敏电阻器 第4部分：空白详细规范 片式压敏电阻器 评定水平E Varistors for use in electronic equipment- Part 4:Blank detail specification for chipvaristors- AssessmentlevelE 2014-10-14发布 2015-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 SJ/T 11278.4.1—2014 前 电子设备用压敏电阻器系列标准分为以下规范： GB/T10193一1997《电子设备用压敏电阻器 第1部分：总规范》 GB/T10194—1997《电子设备用压敏电阻器 第2部分：分规范浪涌抑制型压敏电阻器》 GB/T10195.1一1997《电子设备用压敏电阻器第2部分：空白详细规范碳化硅浪涌抑制型压敏电阻 器评定水平E》 GB/T10195.2一1997《电子设备用压敏电阻器第2部分：空白详细规范氧化锌浪涌抑制型压敏电阻 器 评定水平E》 SJ/T11278一2002《电子设备用压敏电阻器第3部分：分规范防雷型压敏电阻器》 SJ/T11279一2002《电子设备用压敏电阻器第3部分：空白详细规范防雷指示型过电压保护器评 定水平E》 SJ/T11278.4.2--2014《电子设备用压敏电阻器第4部分分规范片式压敏电阻器》 SJ/T11278.4.1-2014《电子设备用压敏电阻器第4部分：空白详细规范 片式压敏电阻器评定 水平E》 本规范是根据GB/10193一1997《电子设备用压敏电阻器第1部分总规范》制定的，是对《电子设 备用压敏电阻器第4部分分规范片式压敏电阻器》的补充。 本规范按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本规范由全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会提出。 本规范由工业和信息化部电子标准化研究院归口。 本规范主要起草单位：、河南金冠王码信息产业股份有限公司。 本规范主要起草人：、韩长生、吕呈祥、景志刚。 I SJ/T11278.4.1—2014 电子设备用压敏电阻器 第4部分：空白详细规范 片式压敏电阻器 评定水平E 1范围 本规范规定了详细规范的格式、编排和最少内容方面的要求，是分规范的一种补充性文件。 本规范适用于电子设备用片式压敏电阻器，它具有金属化焊接区，能够直接安装在混合集成电路的 基片或印制板上。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有修改单）适用于本文件。 GB/T10193一1997电子设备用压敏电阻器第1部分：总规范（idtIEC1051-1：1991） SJ/T11278.4.2--2014电子设备用压敏电阻器第4部分：分规范片式压敏电阻器 IEC60410：1993计数检查抽样方案和程序 3术语和定义 GB/T10193-1997和SJ/T11278.4.2—2014确立的术语和定义适用于本规范。 4要求 4.1详细规范的识别 空白详细规范是分规范的一种补充性文件，它包括详细规范的格式、编排和最少内容方面的要求。 不遵守这些要求的详细规范不认为是符合IEC要求的详细规范。 表1括号内数字标注的位置上应填写下列相应内容： （2）IEC或行业i标准的详细规范编号、发布日期，以及国家体制需要的其他内容。 （3）IEC或国家标准的总规范编号和版本号。 （4）IEC或行业标准的空白详细规范编号。 片式压敏电阻器的识别： （5）这类压敏电阻器的简述。 （6）典型结构的信息（适用时）。 注：当片式压敏电阻器的设计不是用于印制电路板时，详细规范的这个位置上应明确指出。 SJ/T 11278.4.1—2014 （7）带有关系到互换性的主要尺寸的外形图，和（或）引用的国家的或国际的外形方面的文件。 另一种方法，该图形可在详细规范的附录中给出。 （8）用途或涉及的应用类型和（或）评定水平。 注：详细规范中采用的评定水平（或几个评定水平），应从分规范3.3.3中选择，这意味着只要试验的编组不变， 几个评定水平可以共用一个空白详细规范。 （9）关键特性的标准数据，以便在各种型号的压敏电阻器之间进行比较。 表1 (1) SJ/T (2) 按GB/T 10193—1997 SJ/T 11278.4.1—2014 (4) 进行质量评定的电子元器件 (3) 外形图 片式压敏电阻器 （角投影视图） 主材料 (5) (7) 绝缘或非绝缘 (6) 评定水平：E (8) (在规定的尺寸范围内允许形状有所不同） 按本详细规范鉴定合格的元器件有效数据在鉴定合格产品一览表中给出 (6) 2 SJ/T 11278.4.1—2014 4.2一般数据 4.2.1推荐的安装方式（应加以说明） （见分规范SJ/T11278.4.22014中4.1.2） 4.2.2尺寸 片式压敏电阻器的尺寸列在表2中。 表 2 尺寸 型号 hmax L W 本体宽度；h(max) 本体高度；L1 注：L- 本体长度：W- 电极宽度。 4.2.3 额定值和特性 4. 2.3.1 片式压敏电阻的额定值和特性（不同型号规格的主要参数列入表3中）。 表3 最大连续直流或交流工作 规定电流下的 最大峰值 能量耐量 电压 限制电压 型号规格 电压 电流 D.C. A.C.(r.m.s.) 10/1000 2mS V V A J V 气候类别：一/一／- 在规定电流下的电压： 在25℃时 %一人 在上限类别温度时（适用时） %一 在 ℃时 %A 漏电流： 在25℃时 在二 ℃时一μA 4.2.3.2 降额曲线 详细规范中应包括以下适用的曲线： a) 最大连续直流或交流工作电压与温度的关系曲线： b) 以不同脉冲次数为参量的最大峰值电流与脉冲持续时间的关系曲线。 4.2.4 标志 片式压敏电阻器及其包装上的标志应符合总规范GB/T10193一1997中2.4的要求。 注：详细规范中应详细地规定片式压敏电阻器的包装上的标志细节。 4.2.5 订单内容 3 SJ/T11278.4.1—2014 定购本规范的压敏电阻器的订单应以文字或代号的形式列出下述最少的内容： 型号品种代号； a) b) 最大连续直流或交流工作电压； c) 详细规范号和年代号。 4.2.6 放行批证明记录 要求或不要求。 4.2. 7 附加内容（不作检验用） 4.2.8 对总规范／分规范的规定而言，增加或提高严酷等级或要求 注：仅在必要时才增加或提高要求。 4.3检验要求 4.3.1程序 4.3.1.1鉴定批准程序应符合分规范SJ/11278.4.2一2014中5.2的规定。 4.3.1.2质量一致性检验的试验一览表（表4)包括抽样、周期、严酷等级和要求。分规范SJ/T11278.4.2 一2014中5.3.1规定了检验批的组成。 表4 章条号和试验项目 D或ND 试 验 条 件 IL TOV 性 能要求 （见注1） （见注3） （见注1） （见注2） （见注1） A组检验（逐批） A1分组 ND II 1. 0 4.3.1外观检验 按详细规范规定 A2分组 ND II 0. 65 4.4电压 室温时，在直流电流1mA下 按详细规范规定 4.4漏电流 室温时，最大连续工作电压下 按本规范4.2.3 规定 A3分组 ND S-4 1. 0 4.3.3尺寸(量规测量) 按本规范4.2.2 规定 B组检验（逐批） B1分组 ND S2 1. 0 4.6等级电压 以8/20Ms波在一个方向冲击1 (最大限制电压) 次 检查外观 无可见损伤 B2分组 D S-2 1. 0 4.5脉冲电流 以8/20μs波在端电极正反方 (最大峰值电流) 向上各冲击1次，时间间隔30s 检查外观 无可见损伤 测量规定电流下的电压 I/ B3分组 D S-3 2.5 4.11可焊性 方法1A 持续时间： 恢复：24h±2h 检查外观 光可见损伤 4 SJ/T11278.4.1—2014 表4（续） 样本大小和合格 章条号和试验项目 D 或 ND 试验条件 性能要求 判定数（见注3） （见注1） (见注3) （见注1） （见注1） P n c C组检验（周期） 6 12 C1分组 D 以10/1000μs波或2ms方波在一 4.5脉冲电流 (能量耐量） 个方向冲击1次 检查外观 无可见损伤 测量规定电流下的电压 IAV/V/≤_% C2分组 D 6 12 1 4.12耐焊接热 方法1A 持续时间. 恢复：24h土2h 无可见损伤 检查外观 测量规定电流下的电压 I V/V I ≤% C3分组 D 6 12 测量规定电流下的电压（在基板 A3端电极结合强度 I /VI≤% 弯曲的位置) 检查外观 无可见损伤 C4分组 D 12 12 0 A4静电放电试验" 标准静电放电波形 （接触放电） 放电电压：8kV 频次：正反各10次时间间隔1s 检查外观 无可见损伤 测量规定的电流下的电压 1 AV/V/≤_% C5分组 D 12 12 A4静电放电试验” 标准静电放电波形 放电电压：15kv （空气放电） 频次：正反各10次时间间隔1s 检查外观 无可见损伤 测量规定的电流下的电压 △V/V/≤% C6分组（适用时） D 12 12 4.15碰撞 安装方法：见分规范4.1.2 脉冲波形：半正弦波 加速度：490m/s 脉冲持续时