ICS 31. 220 L 23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 5095.2—1997 idt IEC 512-2:1985 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续 性和接触电阻测试、绝缘 试验和电压应力试验 Electromechanical components for electronic equipment Basic testing procedures and measuring methods Part 2 : General examination,electrical continuity and contact resistance tests,insulation tests and voltage stress tests 1997-12-26 发布 1998-10-01实施 国家技术监督局发布 GB/T 5095.2-1997 前 言 本标准等同采用IEC512-2：1985《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第2部分：一 般检查、电连续性、接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验》及其修改单1（1994年），是对 GB5095.2--86进行的第一次修订，增加了试验1c：功能操作（开关）。 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。 本标准由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口。 本标准由电子工业部标准化研究所负责起草。 本标准主要起草人：余玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂。 I GB/T 5095.2--1997 IEC 前言 1）IEC（国际电工委员会）在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员 会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。 2）这些决议或协议以标准，技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义 上，为各国家委员会认可。 3）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。 IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。 IEC 引言 国际标准IEC512-2由IEC/TC48（电子设备用机电元件）制定的。 本标准第二版取代了1976年出版的第版IEC512-2及其修定1（1983年）和1980年出版的第 次补充IEC512-2A。 本标准与第1部分：总则（IEC512-1：1984）一同使用。 整套标准包括的其他试验项目在IEC512-1的附录A中给出了总的计划。这些试验项目在制定后 就发布。 本标准预定取代IEC130-1《频率低于3MHz连接器 第1部分：一般要求和试验方法》中相应的试 验项目。 本标准文本以下列文件为依据： 六个月法 表决报告 二个月程序 表决报告 48(CO)135 48(CO)169,169A 48(CO)150,150A 48(CO)156 48(CO)95 48(CO)109 48(CO)129 48(CO)154 48(CO)96 48(CO)115 48(CO)88 48(CO)106 48(CO)278 48(CO)285 48(CO)89 48(CO)107 48(CO)252 48(CO)264 48(CO)90 48(CO)108 48(CO)91 48(CO)113 48(CO)136 48(CO)159 48(CO)232 48(CO)236 表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。 本标准引用下列标准： IEC270：1981局部放电测量。 II 中华人民共和国国家标准 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续 GB/T 5095.2 —1997 性和接触电阻测试、绝缘 idt IEC 512-2:1985 代替GB5095.2—86 试验和电压应力试验 Electromechanical components for electronic equipment Basic testing procedures and measuring methods Part 2 :General examination ,electrical continuity and contact resistance tests ,insulation tests and voltage stress tests 第一篇 一般检查 范围 本标准规定的试验方法，在IEC/TC48范围内'的电子设备用机电元件的详细规范要求时，应给以 采用。类似元件的详细规范要求时，也可以采用。 1试验1a:外观检查 1.1目的 是确立详细的标准试验方法，以检查电子设备用机电元件的外观。 1.2总则 外观检查就是检查产品的标志、外观、加工质量和镀涂层是否符合有关规范。当详细规范有规定时， 可采用1.4中规定的光学辅助手段。 外观检查在一定程度上是一种主观方法，所以应细心地进行检查，以达到公正的判断。偏离标准的 缺陷，或由于应力引起的变化，应按重要性或作用进行细心地辨别。 1.3需要检查的外观特征 外观特征的检查项目如下： a）加工质量及镀涂层； b）标志； TC48的范围：制定用于通信设备和采用类似技术的电子装置的具有机电连接和开关功能的相关元件的国际 标准。 注 1R.F.连接器应不属于该技术委员会，由TC46与R.F.电缆一同制定。 2晶体或电子管之类元件的插座由相关技术委员会考虑。 国家技术监督局1997-12-26批准 1998-10-01实施 1 GB/T 5095.2—1997 c）材料； d）表面加工质量。例如： 一腐蚀痕迹； .-颜色（与有关标准颜色或样件作比较）： ——光泽度（与有关的标准，如波氏色标或样件作比较）； -粗糙度，沟纹，波纹，擦伤，皱纹，砂眼，细小气孔，凹窝，突起，划痕，龟裂，毛刺，飞边等等； 嵌人表面和附在表面上的杂质。 e）半透明材料的内部状态（例如空穴、气泡、流体线迹、夹杂的杂质）； f）润滑剂的状态及位置（目视尽可能检查到的）； g）零件的松动和分离（特别是应力作用后）。 1.4外观检查方法 按照下列方法之一进行外观检查： a）用目视检查（在最有利的观察距离和适当的照明条件下，应有正常的视力和颜色分辨力）。 b）用放大镜检查（如有规定）。 对本标准而言，不允许采用特殊检查方法，如偏振光（观察材料的内部张力）或其他指示器（观察材 料内部的开裂或细小气孔），但详细规范有明确要求时除外。 1.5需要规定的细节 详细规范要求本项试验时应规定下列细节： a）要检查的细节； b）要检查的特征； c）缺陷判据； d）放大镜倍数（如果有规定）； e）与标准试验方法有何不同之处。 2试验1b：尺寸和重量检查 2.1目的 是确立详细的标准试验方法，以检查电子设备用机电元件的尺寸及重量。 2.2总则 尺寸和重量的检查是按照有关规范规定借助一些合适的测量工具及测量设备，对实际元件进行测 量。 2.3需要检查的特征 2.3.1外形尺寸 检查尺寸是否符合详细规范中的外形图的规定。 2.3.2重量 检查重量是否符合详细规范的要求。 2.3.3电气间隙和爬电距离 当详细规范有规定时，应检查电气间隙和爬电距离，其值应符合有关文件的要求。 2.3.4细部尺寸 当详细规范有要求时，应检查元件的细部尺寸，并应符合有关图样的规定。 2.3.5规测程序 在详细规范规定有规测程序时，应使用合适的标准规检测有关试验样品是否合格。 2.3.6特殊测量 本规范不包括特殊测量项目，如防护层厚度、表面粗糙度或不规则表面的测量等。 2 GB/T 5095.2—1997 2.4测量方法 用适当的测量设备进行尺寸检查和重量检查。例如： a）游标尺、千分尺及千分表； b）标准规； c）具有适当线性放大倍数的投影仪； d）测量显微镜； e）天平。 2.5需要规定的细节 详细规范要求本项试验时应规定下列细节： a）检查的特征项目； b）标准规细节（如适用）； c）测量设备型号及放大倍数； d）缺陷判据； e）与标准试验方法有何不同之处。 2bis.试验1c：功能操作（开关） 2bis.1目的 是确立详细的标准试验方法，以评定开关在规定试验条件下每一转换位置的功能，以及附带的任何 显示件（例如灯泡、发光二极管指示器和液晶显示器）和元件（例如：螺线管、二极管、电阻器）在特定操作 条件下的功能。 2bis.2试验样品准备 试验样品按详细规范的规定进行准备和安装。 2bis.3试验方法 试验样品应与合适的显示器和监测电路相连接。试验设备应能对试验样品的每一转换位置进行检 查，试验程序应符合详细规范规定。开关附带的元件，应检查其功能是否正确。如果交付的开关不带这 些元件，如有可能，应检查它们的连接装置件。 2bis.4要求 开关的功能操作，包括任何显示元件和（或）结构件的操作，应符合详细规范的要求。 2bis.5需要规定的细节 详细规范要求本项试验时应规定下列细节： a）试验样品准备； b）开关的功能操作； c）与标准试验方法有何不同之处。 第二篇 电连续性和接触电阻测试 3试验2a：接触电阻--毫伏法 3.1目的 是确立详细的标准试验方法，以测量一插合对接触件或一接触件与测量规插合的电阻。 3. 2 一般测量要求 可用直流电或交流电进行测量。交流测量的频率应不超过2kHz。有争议时，应以直流测量为准。 测量设备的准确度应使测量总误差不大于10%。 3.3测量方法 3