(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210655861.8 (22)申请日 2022.06.10 (71)申请人 胜科纳米 （苏州） 股份有限公司 地址 215124 江苏省苏州市苏州工业园区 金鸡湖大道99 号苏州纳米城西北区09 栋507室 (72)发明人 廖金枝　华佑南　张兮　李晓旻　 (74)专利代理 机构 北京品源专利代理有限公司 11332 专利代理师 陈小龙 (51)Int.Cl. G01N 21/91(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种电子 显示屏表面 缺陷的检测方法 (57)摘要 本发明提供一种电子显示屏表面缺陷的检 测方法， 所述检测方法包括以下步骤： 将电子显 示屏样品依次进行电晕处理和荧光液浸泡， 得到 预处理后的电子显示屏 样品； 然后用荧光显微镜 检测经过预处理后的电子显示屏 样品表面裂纹。 本发明提供的电子显示屏表面缺陷的检测方法， 使得电子显示屏样品表面的黏附性明显改善， 实 现电子显示屏表面湿润性和粘附力增加的目的， 从而使得荧光液体可以非常容易地浸润进入缺 陷位置， 到 达荧光定位的目的。 权利要求书1页 说明书5页 附图1页 CN 115078398 A 2022.09.20 CN 115078398 A 1.一种电子 显示屏表面 缺陷的检测方法， 其特 征在于， 所述检测方法包括以下步骤： 将电子显示屏样品依次进行电晕处理和荧光液浸泡， 得到预处理后的电子显示屏样 品； 然后用荧 光显微镜检测经 过预处理后的电子 显示屏样品表面裂纹。 2.根据权利要求1所述的检测方法， 其特 征在于， 所述电晕处 理的压力为2 ‑100kV。 3.根据权利要求1或2所述的检测方法， 其特 征在于， 所述电晕处 理的频率 为2‑10kHz。 4.根据权利要求1 ‑3任一项所述的检测方法， 其特征在于， 所述荧光液包括荧光素、 罗 丹明B或罗丹明6G中的任意 一种或至少两种的组合。 5.根据权利要求1 ‑4任一项所述的检测方法， 其特征在于， 所述荧光液的浓度为80 ‑ 120ppm。 6.根据权利要求1 ‑5任一项所述的检测方法， 其特 征在于， 所述浸泡的温度为20 ‑30℃。 7.根据权利要求1 ‑6任一项所述的检测方法， 其特 征在于， 所述浸泡的时间为2 2‑26h。 8.根据权利要求1 ‑7任一项所述的检测方法， 其特征在于， 电子显示屏样品在进行所述 电晕处理前， 需要 使用有机溶剂对电子 显示屏样品进行擦拭。 9.根据权利要求8所述的检测方法， 其特征在于， 所述有机溶剂包括甲醇、 乙醇或丙酮 中的任意 一种或至少两种的组合。 10.根据权利要求1 ‑9任一项所述的检测方法， 其特征在于， 所述电子显示屏表面缺陷 的检测方法包括以下步骤： (1)使用有机溶剂擦拭电子 显示屏样品， 得到有机溶剂擦拭后的电子 显示屏样品； 其中， 所述有机溶剂包括甲醇、 乙醇或丙酮中的任意 一种或至少两种的组合； (2)将有机溶剂擦拭后的电子显示屏样品进行电晕处理， 得到电晕处理后的电子显示 屏样品； 其中， 所述电晕处 理的压力为2 ‑100kV， 所述电晕处 理的频率 为2‑10kHz； (3)将步骤(2)得到的电晕处理后的电子显示屏样品用荧光液进行浸泡， 得到荧光液浸 泡后的电子 显示屏样品； 其中， 所述荧光液包括荧光素、 罗丹明B或罗丹明6G中的任意一种或至少两种的组合， 所述荧光液的浓度为80 ‑120ppm； 所述浸泡的温度为20 ‑30℃， 所述浸泡的时间为2 2‑26h； (4)将步骤(3)得到的荧 光液浸泡后的电子 显示屏样品用荧 光显微镜检测裂纹。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115078398 A 2一种电子显示屏表面缺陷的检测方 法 技术领域 [0001]本发明属于半导体封装技术领域， 具体涉及一种电子显示屏表面缺陷的检测方 法。 背景技术 [0002]在电子显示屏的封装工艺中， 为了提高其电学性能和可靠性， 通常采用环氧树脂、 有机硅材料和玻璃等材 料对核心部件进行封装， 起着与外界空气、 水汽隔绝的作用。 [0003]而封装工艺和材料的选择往往会导致封装层产生缺陷， 成为潮气和腐蚀性离子入 侵的快速通道， 导 致显示异常。 因此如何定位电子 显示屏封装中的缺陷是业界关注的焦点。 [0004]目前对于电子 显示屏荧 光检测样品的制备 大概有2种方法： [0005]第一种方法是对样品直接进行荧光液体浸泡， 然后在荧光显微镜下观察样品。 即 把待测电子显示屏样品浸泡在荧光液里面， 让荧光液渗透进去有裂纹的地方， 然后再把电 子显示屏样品放在荧光显微镜下观察， 但是由于这些有机电子显示屏样品的表面湿润性及 粘附力低， 使得荧光液体很难附着， 而且电子显示屏样品表面往往有油污和尘垢等污染物 质， 使得电子显示屏样品表面与荧光液的接触角较大， 很难让荧光液体附着 。 由于这些困难 的存在， 使得荧 光方法应用在有机电子 显示屏样品表面 缺陷定位比较困难。 [0006]第二种方法是对浸泡在荧光液体里面的样品及荧光液体同时进行抽真空。 但由于 样品是浸泡在荧光液体里 的， 尽管是抽真空， 也不能很好的把浸泡在液体里面的样品气体 给抽出来； 同时样品表面的一些油污， 污染物等也是不能在抽真空过程中被清理干净。 这些 都导致荧光液体难以渗透附着在裂纹的地方， 使得样品表面 缺陷荧光定位困难。 [0007]针对以上问题， 如何提供一种电子显示屏表面缺陷的检测方法， 使其可以提高荧 光液体在电子显示屏样品表面的附着能力， 从而使得荧光液体附着、 定位， 成为目前亟待解 决的问题。 发明内容 [0008]针对现有技术的不足， 本发明的目的在于提供一种电子显示屏表面缺陷的检测方 法。 本发明提供 的电子显示屏表面缺陷的检测方法， 具有简单、 快速的特点， 有效地解决了 现有的电子显示屏 表面缺陷在荧光检测过程中由于样品表面湿润性及 粘附力低， 以及样品 表面的油污和尘垢等物质而造成荧 光液难以渗透附着， 而不能在缺陷位置 定位的问题。 [0009]为达到此发明目的， 本发明采用以下技 术方案： [0010]本发明提供一种电子显示屏表面缺陷的检测方法， 其特征在于， 所述检测方法包 括以下步骤： [0011]将电子显示屏样品依次进行电晕处理和荧光液浸泡， 得到预处理后的电子显示屏 样品； 然后用荧 光显微镜检测经 过预处理后的电子 显示屏样品表面裂纹。 [0012]在本发明中， 所述电晕处理的压力为2 ‑100kV(例如可以是2kV、 10kV、 15kV、 20kV、 25kV、 30kV、 35kV、 40kV、 45kV、 50kV、 55kV、 60kV、 65kV、 70kV、 75kV、 80kV、 85kV、 90kV、 95kV、说　明　书 1/5 页 3 CN 115078398 A 3