(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210626876.1 (22)申请日 2022.06.06 (71)申请人 杨介波 地址 311200 浙江省杭州市萧 山区经济技 术开发区明星路371号1幢802-1室 (72)发明人 杨介波　 (51)Int.Cl. G01N 21/95(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 智能芯片测试系统 (57)摘要 本发明公开了智能芯片测试系统， 该系统包 括底板、 固定架和活动架， 所述底板顶端固定设 置有固定架， 所述底板顶端开设有第一滑槽， 所 述活动架底端活动设置有滚轮， 所述活动架顶端 设置有第一运输机构。 本发明待检测芯片安置在 运输轮之间位置， 并且通过摇杆转动转盘， 从而 带动螺杆转动， 如此使 得活动架通过滚轮沿着第 一滑槽内部移动， 如此调节活动架与固定架之间 间隔距离， 直到运输轮将芯片夹持固定， 如此方 便对不同大小的芯片进行固定检测， 并且运输时 水平位置 上芯片位置固定， 无需人工再进行芯片 的定位工作， 提高了 检测效。 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 CN 115015285 A 2022.09.06 CN 115015285 A 1.智能芯片测试系统， 包括底板 （1） 、 固定架 （5） 和活动架 （3） ， 其特征在于： 所述底板 （1） 顶端固定设置有固定架 （5） ， 所述底板 （1） 顶端开设有第一滑槽 （2） ， 所述活动架 （3） 底端 活动设置有滚轮 （4） ， 所述活动架 （3） 顶端设置有第一运输机构 （8） ， 所述固定架 （5） 顶端设 置有第二运输机构 （9） ， 所述第一运输机构 （8） 与第二运输机构 （9） 之间设置有调节机构， 所 述第一运输机构 （8） 顶端设置有第一传动轮 （6） ， 所述第二运输机构 （9） 顶端设置有第二传 动轮 （20） ， 所述第一传动轮 （6） 与第二传动轮 （20） 之间环绕设置有第一传动带 （21） ， 所述第 一传动带 （21） 为交叉带， 所述第一运输机构 （8） 顶端设置有传动机构， 所述第一运输机构 （8） 顶端设置有第一齿轮 （24） ， 所述固定架 （5） 外侧设置有检测机构， 所述第一运输机构 （8） 与第二运输机构 （9） 之间设置有除杂机构。 2.根据权利要求1所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述第一运输机构 （8） 包括 第三传动轮 （18） 、 第三传动带 （19） 和运输轮 （17） ， 所述第一运输机构 （8） 顶端活动设置有第 三传动轮 （18） ， 所述第三传动轮 （18） 之间环绕设置有第三传动带 （19） ， 所述第一齿轮 （24） 、 第一传动轮 （6） 和第二传动轮 （20） 均与第三传动轮 （18） 同轴安装， 所述第一运输机构 （8） 内 部活动卡接设置有运输轮 （17） ， 所述运输轮 （17） 数量与第三传动轮 （18） 数量相同， 并且运 输轮 （17） 与第三传动轮 （18） 同轴安装。 3.根据权利要求2所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述调节机构包括转盘 （11） 、 摇杆 （12） 、 螺杆 （10） 、 刻度尺 （13） 、 空心块 （14） 、 空心杆 （16） 和第 一定位杆 （15） ， 所述 固定架 （5） 内部通过螺纹穿插设置有螺杆 （10） ， 所述螺杆 （10） 一侧活动卡接在活动架 （3） 内 部， 所述螺杆 （10） 一侧固定设置有转盘 （11） ， 所述转盘 （11） 一侧固定设置有摇杆 （12） ， 所述 活动架 （3） 一侧固定设置有空心块 （14） ， 所述固定架 （5） 一侧固定设置有刻度尺 （13） ， 所述 刻度尺 （13） 活动穿过空心块 （14） 内部 。 4.根据权利要求3所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述传动机构包括电机 （22） 、 第二齿轮 （23） 、 第四传动轮 （28） 、 第五传动轮 （2 6） 、 第四传动带 （25） 和第三齿轮 （27） ， 所述第一运输机构 （8） 顶端固定设置有电机 （22） ， 所述电机 （22） 输出端固定设置有第二齿 轮 （23） ， 所述第二齿轮 （23） 顶端 固定设置有第四传动轮 （28） ， 所述第二齿轮 （23） 与第一齿 轮 （24） 啮合， 所述第二齿轮 （23） 为半齿轮， 所述第一运输机构 （8） 顶端活动设置有第三齿轮 （27） ， 所述第三齿轮 （27） 顶端 固定设置有第五传动轮 （26） ， 所述第五传动轮 （26） 与第四传 动轮 （28） 之间套接设置有第四传动带 （25） 。 5.根据权利要求4所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述检测机构包括标识机 构、 检测箱 （29） 、 控制箱 （31） 、 储存模块 （33） 、 比对模块 （34） 、 视觉检视摄像头 （32） 和输入模 块 （30） ， 所述固定架 （5） 一侧固定设置有检测箱 （29） ， 所述检测箱 （29） 为U型， 所述检测箱 （29） 内部设置有标识机构， 所述检测箱 （29） 内部固定设置有控制 箱 （31） ， 所述检测箱 （29） 内侧上下均固定 设置有视觉检视摄像头 （32） ， 所述检测箱 （29） 一侧镶嵌固定设置有输入模 块 （30） ， 所述检测箱 （29） 内部镶嵌固定设置有储存模块 （33） 和比对模块 （34） ， 所述视觉检 测摄像头 （32） 、 储 存模块 （33） 、 比对模块 （34） 和输入 模块 （30） 均与控制箱 （31） 电性连接 。 6.根据权利要求5所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述标识机构包括活动盘 （36） 、 海绵环 （37） 、 储存盒 （35） 、 补料管 （38） 、 水平板 （39） 、 气囊 （41） 、 电磁铁 （40） 、 永磁铁 （42） 、 定位槽 （43） 和第二定位杆 （7） ， 所述检测箱 （29） 内部开设有定位槽 （43） ， 所述定位槽 （43） 内部活动卡接设置有第二定位杆 （7）， 所述第二定位杆 （7） 顶端固定设置有水平板权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115015285 A 2（39） ， 所述检测箱 （29） 内部镶嵌固定设置有电磁铁 （40） ， 所述电磁铁 （40） 与控制 箱 （31） 电 性连接， 所述电磁铁 （40） 顶端固定设置有气囊 （41） ， 所述水平板 （39） 内部镶嵌固定设置有 永磁铁 （42） ， 所述永磁铁 （42） 底端与电磁铁 （40） 顶端同极， 所述水平板 （39） 顶端 固定设置 有储存盒 （35） ， 所述储存盒 （35） 内部活动卡接设置有活动盘 （36） ， 所述活动盘 （36） 外侧覆 盖固定设置有海绵 环 （37） ， 所述储 存盒 （35） 一侧镶嵌固定设置有补料 管 （38） 。 7.根据权利要求6所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述除杂机构包括喷头 （45） 、 空心辊 （44） 、 穿孔 （47） 、 橡胶环 （48） 、 注入管 （46） 、 喇叭管 （56） 、 扇叶 （55） 、 第四齿轮 （50） 、 圆形孔 （51） 、 支 撑架 （52） 、 第一锥齿轮 （53） 、 第二锥齿轮 （54） 和壳体 （49） ， 所述第一运 输机构 （8） 顶端固定设置有壳体 （49） ， 所述壳体 （49） 顶端开设有圆形孔 （51） ， 所述圆形孔 （51） 内部固定设置有支撑架 （52） ， 所述支撑架 （52） 中心活动设置有第四齿轮 （50） ， 所述第 四齿轮 （50） 与第三齿轮 （27） 啮合， 并且第三齿轮 （27） 齿轮数大于第四齿轮 （50） ， 所述第四 齿轮 （50） 底端同轴固定设置有第一锥齿轮 （53） ， 所述壳体 （49） 内部活动设置有第二锥齿轮 （54） ， 所述第一锥齿轮 （53） 与第二锥齿轮 （54） 啮合， 所述第二锥齿轮 （54） 同轴固定设置有 扇叶 （55） ， 所述壳体 （49） 内部一侧固定设置有喇叭管 （56） ， 所述壳体 （49） 一侧固定设置有 注入管 （46） ， 所述第二运输机构 （9） 顶端固定 设置有空心辊 （44） ， 所述空心辊 （44） 底端均匀 固定设置有若干个喷头 （45） ， 所述空心辊 （44） 一侧开设有穿孔 （47） ， 所述穿孔 （47） 内部固 定设置有橡胶环 （48） ， 所述注入管 （46） 活动穿过橡胶环 （48） 延伸至活动辊 （44） 内部， 所述 橡胶环 （48） 内径小于注入管 （46） 外径。 8.根据权利要求7所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述滚轮 （4） 活动卡接在第 一滑槽 （2） 内部 。 9.根据权利要求8所述的智能芯片测试系统， 其特征在于： 所述第一运输机构 （8） 与第 二运输机构 （9） 结构相同。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115015285 A 3