(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210610385.8 (22)申请日 2022.05.31 (71)申请人 青岛融合智能科技有限公司 地址 266000 山东省青岛市黄岛区大公岛 路3号3-3023室 (72)发明人 李阳　金虎范　周阳强　 (74)专利代理 机构 青岛发思特专利商标代理有 限公司 37212 专利代理师 张洒洒 (51)Int.Cl. G01N 21/958(2006.01) G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 光学玻璃基 板研磨不均的缺陷检测方法 (57)摘要 本发明公开了一种光学玻璃基板研磨不均 的缺陷检测方法， 属于玻璃基板技术领域。 其技 术方案为： 包括以下步骤： 1)将光学玻璃基板放 置在玻璃支架上； 2)打开光源调整亮度， 光透过 光学玻璃基板投射至白色背景上； 3)对投射到白 色背景上的图像进行分析， 判断出光学玻璃基板 上是否存在研磨不均的缺陷。 本发 明有效解决了 光学玻璃基板磨削不均无法有效检测的问题， 在 不损害光学玻璃 基板产品表面质量的状况下， 快 速完成缺陷检测判定 。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 114923932 A 2022.08.19 CN 114923932 A 1.光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 1)将光学玻璃基板(2)放置在玻璃 支架上； 2)打开光源(1)调整亮度， 光透过光学玻璃基板(2)投射至白色背景(3)上； 3)对投射到白色背景(3)上的图像进行分析， 判断出光学玻璃基板(2)上是否存在研磨 不均的缺陷。 2.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 步骤3) 中， 具体分析方式为： 检测人员观察白色背景(3)是否存在竖向或弧线状印记， 若存在则说 明光学玻璃基板(2)上存在研磨不均的缺陷， 否则不存在缺陷。 3.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 步骤3) 中， 具体分析方式为： 玻璃支架上方放置CCD 镜头， 对白色背 景(3)上的成像进 行图片信息收 集， 然后对收集到的图像进行像素 灰阶判定 。 4.如权利要求3所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述CCD 镜头采用单个 像素为7‑10 μm的广角线性C CD镜头。 5.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述光源 (1)采用氙灯。 6.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述玻璃 支架距幕布0.5 ‑1m。 7.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 白色背景 处检测照度大于80LUX。 8.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述玻璃 支架采用可旋转的玻璃 支架。 9.如权利要求1所述的光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述白色 背景(3)采用白色幕布。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114923932 A 2光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方 法 技术领域 [0001]本发明涉及玻璃基板技术领域， 具体涉及 一种光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测 方法。 背景技术 [0002]光学玻璃基板生产包括热端成型或再加热成型技术， 在此过程中玻璃基板表面接 触锡液、 传送辊轮、 颗粒、 石墨模 具等物质， 造成划伤、 脏污、 凹凸点等缺陷， 因此需要对光学 玻璃基板表面进行研磨、 抛光来获取高质量的玻璃表面。 光学玻璃基板表面研磨是一种机 械化学抛光法， 采用研磨液(氧化铈、 碳酸钙等)与玻璃基板表面水解生 成硅酸凝胶层， 并用 研磨液中的磨料与研磨垫进行机械磨削作用来达到玻璃基板表面精加工的作用。 如划伤、 脏污、 欠点等普通研磨缺陷通过强光配合人眼或设备即可准确检出判断， 但研磨导致玻璃 板面磨削不均造成显示屏光线透过 出现不良的问题亟需一种快速有效的检验方法来 解决。 发明内容 [0003]本发明要解决的技术问题是： 克服现有技术的不足， 提供一种光学玻璃基板研磨 不均的缺陷检测方法， 有效解决了光学玻璃基板磨削不均无法有效检测的问题， 在不损害 光学玻璃基板产品表面质量的状况 下， 快速完成缺陷检测判定 。 [0004]本发明的技 术方案为： [0005]光学玻璃基板研磨不均的缺陷检测方法， 包括以下步骤： [0006]1)将光学玻璃基板放置在玻璃 支架上； [0007]2)打开光源调整亮度， 光透过光学玻璃基板投射至白色背景 上； [0008]3)对投射到白色背景上的图像进行分析， 判断出光学玻璃基板上是否存在 研磨不 均的缺陷。 [0009]优选地， 步骤3)中， 具体分析方式为： 检测人员观察白色背景是否存在竖向或弧线 状印记， 若存在则说明光学玻璃基板上存在研磨不均的缺陷， 否则不存在缺陷。 [0010]优选地， 步骤3)中， 具体分析方式为： 玻璃支架 上方放置CCD镜头， 对白色背景上的 成像进行图片信息收集， 然后对收集到的图像进行像素 灰阶判定 。 [0011]优选地， 所述C CD镜头采用单个 像素为7‑10 μm的广角线性C CD镜头。 [0012]优选地， 所述 光源采用氙灯。 [0013]优选地， 所述玻璃 支架距幕布0.5 ‑1m。 [0014]优选地， 白色背景处检测照度大于80LUX。 [0015]优选地， 所述玻璃 支架采用可旋转的玻璃 支架。 [0016]优选地， 所述白色背景采用白色幕布。 [0017]本发明与现有技 术相比， 具有以下有益效果： [0018]本发明可实现快速对光学玻璃基板表面研磨不均缺陷的检查判定， 有效解决了光 学玻璃基板磨削不均无法有效检测的问题。 且在此过程中不会触碰到玻璃基板表面， 从而说　明　书 1/3 页 3 CN 114923932 A 3