ICS31.200 CCSL56 团体标准 T/CESA1120—2020 人工智能芯片面向边缘侧的深度学习 芯片测试指标与测试方法 AIchips-Testmetricsandtestmethodofdeeplearningchipsforedgeside 2020-10-30发布2020-11-10实施 中国电子工业标准化技术协会发布 全国团体标准信息平台 T/CESA1120—2020 I 版权保护文件 版权所有归属于该标准的发布机构,除非有其他规定,否则未经许可,此发行物及其章节不得以其他 形式或任何手段进行复制、再版或使用,包括电子版,影印件,或发布在互联网及内部网络等。使用许可可 于发布机构获取。 全国团体标准信息平台 T/CESA1120—2020 II目  次 前  言...............................................................................................................................................................IV 1范围.....................................................................................................................................................................1 2规范性引用文件.................................................................................................................................................1 3术语和定义.........................................................................................................................................................1 4缩略语.................................................................................................................................................................3 5技术要求.............................................................................................................................................................3 5.1环境要求.................................................................................................................................................3 5.2基本技术要求.........................................................................................................................................3 5.3训练技术要求(非必需).....................................................................................................................3 5.3.1测试对象.....................................................................................................................................4 5.3.2测试框架.....................................................................................................................................4 5.3.3训练过程.....................................................................................................................................4 5.3.4模型一致性规则.........................................................................................................................4 5.4推理技术要求.........................................................................................................................................4 5.4.1测试框架.....................................................................................................................................4 5.4.2测试对象.....................................................................................................................................5 5.4.3测试流程.....................................................................................................................................5 5.4.4测试场景信息.............................................................................................................................5 5.4.5作业到达.....................................................................................................................................5 5.4.6模型压缩规则.............................................................................................................................5 6测试方法.............................................................................................................................................................6 6.1测试指标.................................................................................................................................................6 6.2测试指标描述.........................................................................................................................................6 6.2.1训练时间.....................................................................................................................................6 6.2.2训练能耗.....................................................

pdf文档 T-CESA 1120—2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

文档预览
中文文档 21 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共21页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
T-CESA 1120—2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 第 1 页 T-CESA 1120—2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 第 2 页 T-CESA 1120—2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 思安2022-12-15 02:06:04上传分享
给文档打分
您好可以输入 255 个字符
网站域名是多少( 答案:github5.com )
评论列表
  • 暂时还没有评论,期待您的金玉良言