(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210643280.2 (22)申请日 2022.06.08 (71)申请人 先临三维科技股份有限公司 地址 311258 浙江省杭州市萧 山区闻堰街 道湘滨路1398号 (72)发明人 赵斌涛　林忠威　张健　江腾飞　 (74)专利代理 机构 北京开阳星知识产权代理有 限公司 1 1710 专利代理师 王艳斌 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 回环检测方法、 装置、 电子设备及 介质 (57)摘要 本公开实施例涉及一种回环检测方法、 装 置、 电子设备及介质， 其中， 该方法包括： 获取被 扫描物体的帧图像集合； 帧图像集合中各个帧图 像均具有多个扫描标志点， 根据帧图像集合生成 被扫描物体的初始框架； 基于初始框架中每个初 始框架点的坐标位置信息获取初始框架中每个 初始框架点的候选框架点集合， 识别出各个初始 框架点的候选框架点集合中满足预设的回环检 测条件的目标框架点， 建立每个初始框架点和对 应的目标框架点的链接关系， 基于初始框架点和 对应的目标框架点的链接关系对初始框架进行 标志点全局优化处理， 得到第一目标框架。 采用 上述技术方案， 能够提高回环检测的准确性和可 靠性， 从而使得最终三维重建生成的模型更加精 确和可靠。 权利要求书3页 说明书13页 附图3页 CN 115187510 A 2022.10.14 CN 115187510 A 1.一种回环检测方法， 其特 征在于， 包括： 获取被扫描物体的帧图像集合； 所述帧图像集合中的各个帧图像均 具有多个扫描标志 点， 一个所述扫描标志点对应于一个所述被扫描物体的标志点； 根据所述帧图像集合， 生成所述被扫描物体的初始框架； 其中， 所述初始框架中包括多 个初始框架点， 每个所述初始框架点为基于所述多个扫描标志点确定， 一个初始框架点对 应于多个帧图像中的某一个扫描标志点； 基于每个初始框架点的坐标位置信 息， 获取所述初始框架中每个初始框架点的候选框 架点集合； 识别出各个初始框架点的候选框架点集合中满足预设的回环检测条件的目标框架点， 并建立所述每 个初始框架点和对应的所述目标框架点的链接关系； 基于初始框架点和对应的所述目标框架点的链接关系， 对所述初始框架进行标志点全 局优化处 理， 得到第一目标框架。 2.根据权利要求1所述的回环检测方法， 其特征在于， 所述根据所述帧图像集合， 生成 被扫描物体的初始框架， 包括： 获取为空的参考框架， 从所述帧图像集合中获取第一帧图像， 基于所述第一帧图像对 应的所有扫描标志点确定 框架点添加到所述 参考框架中； 依次从所述帧图像集合获取第 二帧图像， 从所述参考框架中获取与 所述第二帧图像对 应的扫描标志点匹配的待处 理框架点； 基于扫描标志点特征信息判断所述第二帧图像对应的扫描标志点和匹配的所述待处 理框架点是否为同一标志点； 当所述第二帧图像对应的扫描标志点和匹配的所述待处理框架点为同一标志点时， 更 新所述待处理框架 点的特征信息， 以及当所述第二帧图像对应的扫描标志 点和匹配的所述 待处理框架 点不为同一标志 点时， 则基于所述第二帧图像对应的扫描标志 点确定框架点添 加到所述 参考框架中； 对所述帧图像集 合逐帧判断后， 得到所述初始框架。 3.根据权利要求1所述的回环检测方法， 其特征在于， 所述基于每个初始框架点的坐标 位置信息， 获取 所述初始框架中每 个初始框架点的候选 框架点集合， 包括： 基于所述每 个初始框架点的坐标位置信息确定所述每 个初始框架点的位置坐标值； 基于所述 位置坐标值和预设的半径 距离， 确定候选位置范围； 获取所述候选位置范围内的框架点作为所述每 个初始框架点的候选 框架点集合。 4.根据权利要求1所述的回环检测方法， 其特征在于， 所述识别出各个初始框架点的候 选框架点集合中满足预设的回环检测条件的目标框架点， 包括： 判断所述每个初始框架点和所述候选框架点集合中的候选框架点是否属于同一帧图 像； 当所述每个初始框架点和所述候选框架点不属于同一帧图像时， 判断所述每个初始框 架点和所述每 个候选框架点的特 征信息是否匹配； 当所述每个初始框架点和所述候选框架点的特征信 息匹配时， 确定所述候选框架点为 所述目标框架点。 5.根据权利要求1所述的回环检测方法， 其特征在于， 所述基于初始框架点和对应的所权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115187510 A 2述目标框架 点的链接 关系， 对所述初始框架进行标志 点全局优化处理， 得到第一目标框架， 包括： 基于每帧图像 中扫描标志点与所述初始框架中初始框架点的映射关系、 所述每个初始 框架点的坐标位置信息和所述链接 关系， 并以所述每帧图像中扫描标志 点与所述初始框架 中初始框架 点的最小距离、 以及所述初始框架中具有 所述链接 关系中的两个初始框架点之 间的最小距离进行计算， 得到初始框架点的更新 位置坐标； 基于所述更新 位置坐标对所述初始框架点进行位置更新， 得到所述第一目标框架。 6.根据权利要求1至 5任一项所述的回环检测方法， 其特 征在于， 还 包括： 获取所述第一目标框架中第一目标框架点对应的候选目标框架点； 基于框架点特征信息确定所述第一目标框架点和所述候选目标框架点为同一个框架 点； 基于所述第 一目标框架点和所述候选目标框架点确定第 二目标框架点， 并将为同一框 架点对应的所有特征信息进行平均处理， 作为所述第二 目标框架点的特征信息， 得到第二 目标框架。 7.根据权利要求6所述的回环检测方法， 其特 征在于， 还 包括： 基于每帧图像 中扫描标志点与所述第 二目标框架中第 二目标框架点的映射关系、 所述 每个第二目标框架 点的坐标位置信息， 并以所述每帧图像中扫描标志点与所述第二目标框 架中第二目标框架点的最小距离进行计算， 得到第二目标框架点的更新 位置坐标； 基于所述第 二目标框架点的更新位置坐标， 得到第 三目标框架和每帧图像对应的参数 信息。 8.一种回环检测装置， 其特 征在于， 包括： 第一获取模块， 用于获取被扫描物体的帧图像集合； 所述帧图像集合中的各个帧图像 均具有多个扫描标志点， 一个所述扫描标志点对应于一个所述被扫描物体的标志点； 生成模块， 用于根据所述帧图像集合， 生成所述被扫描物体的初始框架； 其中， 所述初 始框架中包括多个初始框架点， 每个所述初始框架点为基于所述多个扫描标志点确定， 一 个初始框架点对应于多个帧图像中的某一个扫描标志点； 第二获取模块， 用于基于每个初始框架点的坐标位置信息， 获取所述初始框架中每个 初始框架点的候选 框架点集合； 识别模块， 用于识别出各个初始框架点的候选框架点集合中满足预设的回环检测条件 的目标框架点； 建立链接模块， 用于建立所述每 个初始框架点和对应的所述目标框架点的链接关系； 处理模块， 用于基于初始框架点和对应的所述目标框架点的链接关系， 对所述初始框 架进行标志点全局优化处 理， 得到第一目标框架。 9.一种电子设备， 其特 征在于， 所述电子设备包括： 处理器； 用于存储所述处 理器可执行指令的存 储器； 所述处理器， 用于从所述存储器中读取所述可执行指令， 并执行所述指令以实现上述 权利要求1 ‑7中任一所述的回环检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述存储介质存储有计算机程序， 所述计权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115187510 A 3