(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210694627.6 (22)申请日 2022.06.20 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114782433 A (43)申请公布日 2022.07.22 (73)专利权人 联宝 （合肥） 电子科技有限公司 地址 230601 安徽省合肥市经济技 术开发 区云谷路318 8-1号 （综合保税区内） (72)发明人 赵玲玲　王敏　张培远　张伟　 (74)专利代理 机构 北京乐知新创知识产权代理 事务所(普通 合伙) 11734 专利代理师 江宇 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/60(2017.01)G06T 7/70(2017.01) G06V 10/762(2022.01) G06K 9/62(2022.01) 审查员 胡晓雨 (54)发明名称 一种键帽检测方法、 装置及电子设备 (57)摘要 本申请提供了一种键帽检测方法、 装置及电 子设备； 所述方法包括： 基于待测键帽的灰度图 像， 确定所述待测键帽的最小外接矩形； 将所述 待测键帽的最小外接矩形与所述待测键帽对应 的模板图像中模板键帽的最小外接矩形进行比 较， 得到中间比较结果； 基于所述中间比较结果 检测所述待测戴帽是否装配正确。 本申请提供的 键帽检测方法， 可 以降低人力成本的消耗， 提高 键帽检测的效率和准确率。 权利要求书2页 说明书10页 附图4页 CN 114782433 B 2022.09.20 CN 114782433 B 1.一种键帽 检测方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 基于待测键帽的灰度图像， 确定所述待测键帽的最小外 接矩形； 将所述待测键帽的最小外接矩形与所述待测键帽对应的模板图像中模板键帽的最小 外接矩形进行比较， 得到中间比较结果； 基于所述中间比较结果检测所述待测键帽是否装配正确； 其中， 所述基于所述中间比较结果检测所述待测键帽是否装配正确， 包括： 若所述待测键帽的最小外接矩形的长与所述模板图像中模板键帽的最小外接矩形的 长之间的第一差值的绝对值小于或等于第一阈值， 且所述待测键帽的最小外接矩形的宽与 所述模板图像中模板键帽的最小外接矩形的宽之间的第二差值的绝对值小于或等于第二 阈值， 则确定所述待测键帽的左上角的第一矩形区域和所述模板键帽的左上角的第二矩形 区域， 以及确定所述待测键帽的右上角的第三矩形区域和所述模板键帽的右上角的第四矩 形区域； 将所述第一矩形区域、 所述第二矩形区域、 所述第三矩形区域和所述第四矩形区域 中的每个矩形区域分别进行聚类处 理， 基于聚类结果检测所述待测键帽是否装配正确。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 基于所述待测键帽的灰度图像， 确定所述 待测键帽的最小外 接矩形， 包括： 基于所述待测键帽的灰度图像， 确定所述待测键帽的最大 连通域； 基于所述 最大连通域， 构建凸多边形； 确定所述凸多边形对应的最小外 接矩形为所述待测键帽的最小外 接矩形。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 基于所述待测键帽的灰度图像， 确定所述 待测键帽的最小外 接矩形之后， 所述方法还 包括： 判断所述 最小外接矩形是否倾斜； 若所述最小外接矩阵发生 倾斜， 对所述待测键帽的灰度图像进行矫 正处理。 4.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述将所述待测键帽的最小外接矩形与 所 述待测键帽对应的模板图像中模板键帽的最小外接矩形进行比较， 得到中间比较结果， 包 括： 计算所述待测键帽的最小外接矩形的长与所述模板 图像中模板键帽的最小外接矩形 的长之间的第一差值； 计算所述待测键帽的最小外接矩形的宽与所述模板 图像中模板键帽的最小外接矩形 的宽之间的第二差值； 比较所述第一差值的绝对值与预设的第一阈值之间的大小和所述第二差值的绝对值 与所述预设的第二阈值之间的大小， 得到中间比较结果； 基于所述中间比较结果， 检测所述待测键帽是否装配正确。 5.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述基于所述中间比较结果检测所述待测 键帽是否装配正确， 包括： 若所述第 一差值的绝对值大于所述第 一阈值， 和/或， 所述第二差值的绝对值大于所述 第二阈值， 确定所述待测键帽装配错 误。 6.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述将所述第一矩形区域、 所述第二矩形 区域、 所述第三矩形区域和所述第四矩形区域中的每个矩形区域分别进行聚类处理， 基于 聚类结果检测所述待测键帽是否装配正确， 包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114782433 B 2将所述每个矩形区域进行聚类处理， 将所述每个矩形区域中的像素点划分为键帽圆弧 区域内和键帽圆弧区域外 两个类别； 确定所述第一矩形区域中键帽圆弧区域内像素点的个数与键帽圆弧区域外像素点的 个数的比值， 与所述第二矩形区域中键帽圆弧内像素点的个数与键帽圆弧区域外像素点的 个数的比值之间的第三差值； 确定所述第三差值对应的第一 绝对值； 确定所述第三矩形区域中键帽圆弧区域内像素点的个数与键帽圆弧区域外像素点的 个数的比值， 与所述第四矩形区域中键帽圆弧内像素点的个数与键帽圆弧区域外像素点的 个数的比值之间的第四差值； 确定所述第四差值对应的第二 绝对值； 若第一绝对值大于预设的第三阈值， 和/或， 第二绝对值大于预设的第 四阈值， 确定所 述待测键帽装配错 误。 7.一种键帽 检测装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 最小外接矩形确定模块， 用于基于待测键帽的灰度图像， 确定所述待测键帽的最小外 接矩形； 最小外接矩形比较模块， 用于将所述待测键帽的最小外接矩形与所述待测键帽对应的 模板图像中模板 键帽的最小外 接矩形进行比较， 得到中间比较结果； 左上角区域和 右上角区域检测模块， 用于基于所述中间比较结果检测所述待测键帽是 否装配正确； 其中， 左上角区域和 右上角区域检测模块， 具体用于： 若所述待测键帽的最小外接矩形 的长与所述模板图像中模板键帽的最小外接矩形的长之间的第一差值的绝对值小于或等 于第一阈值， 且所述待测键帽的最小外接矩形的宽与所述模板图像中模板键帽的最小外接 矩形的宽之 间的第二差值的绝对值小于或等于第二阈值， 则确定所述待测键帽的左上角的 第一矩形区域和所述模板键帽的左上角的第二矩形区域， 以及确定所述待测键帽的右上角 的第三矩形区域和所述模板键帽的右上角的第四矩形区域； 将所述第一矩形区域、 所述第 二矩形区域、 所述第三矩形区域和所述第四矩形区域中的每个矩形区域分别进行聚类处 理， 基于聚类结果检测所述待测键帽是否装配正确。 8.一种电子设备， 其特 征在于， 所述电子设备包括： 至少一个处 理器； 以及与所述至少一个处 理器通信连接的存 储器； 其中， 所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令， 所述指令被所述至少 一个处理器执行， 以使所述至少一个处 理器能够执 行权利要求1 ‑6中任一项所述的方法。 9.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述存储介质包括一组计算机可执行指令， 当所述指令被执 行时用于执 行权利要求1 ‑6任一项所述的键帽 检测方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114782433 B 3