(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211006082.1 (22)申请日 2022.08.22 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 原进良　曹沿松　纪其乐　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 张祺浩 (51)Int.Cl. G01N 21/956(2006.01) G06T 7/00(2017.01) G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 缺陷检测方法、 缺陷检测装置及计算机可读 存储介质 (57)摘要 本申请公开了缺陷检测方法、 缺陷检测装置 及计算机可读存储介质， 该缺陷检测方法包括： 获取待检测电路板的缺陷数据； 采集所述待检测 电路板的定位图像， 并根据所述定位图像确定所 述待检测电路板上基准的当前位置数据， 其中所 述定位图像包括所述基准的图像； 基于所述缺陷 数据和所述基准的当前位置数据， 对 所述待检测 电路板的缺陷区域进行图像采集， 以获取与所述 缺陷数据对应的缺陷图像。 通过本申请的方法， 能够根据AOI检测时的检测数据重新采集待检测 电路板的缺陷图像， 以能够根据单个缺陷区域的 图像进行复检， 提高缺陷检测的精度。 权利要求书3页 说明书12页 附图4页 CN 115524347 A 2022.12.27 CN 115524347 A 1.一种缺陷检测方法， 其特征在于， 应用于一种缺陷检测装置， 所述缺陷检测方法包 括： 获取待检测电路板的缺陷数据； 采集所述待检测电路板的定位图像， 并根据 所述定位图像确定所述待检测电路板上基 准的当前位置数据， 其中所述定位图像包括所述基准的图像； 基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据， 对所述待检测电路板的缺陷区域进行 图像采集， 以获取与所述 缺陷数据对应的缺陷图像。 2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述采集所述待检测电路板的定位图像， 并根据 所述定位图像确定所述待检测电路板 上基准的当前位置数据的步骤， 包括： 采集所述待检测电路板的定位图像； 根据所述基准的图像特征， 从所述定位图像中识别出所述基准的图像， 并获取所述基 准在所述定位图像上的相对位置数据； 根据所述相对位置数据， 获取 所述基准的当前位置数据。 3.根据权利要求2所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷检测装置上设置有用于 拍摄所述定位图像的第一图像采集组件； 所述根据所述相对位置数据， 获取 所述基准的当前位置数据的步骤， 包括： 获取所述第一图像采集组件的当前位置； 根据所述相对位置数据， 以及所述第一图像采集组件的当前位置， 计算所述基准的当 前位置数据。 4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷数据包括待检测电路板 图像上各个缺陷相对所述基准的第一位置数据， 以及所述第一位置数据与所述待检测电路 板的映射关系； 所述基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据对所述待检测电路板的缺陷区域 进行图像采集的步骤， 包括： 根据所述第 一位置数据与 所述映射关系， 计算所述待检测电路板上各个所述缺陷相对 所述基准的第二 位置数据； 根据所述基准的当前位置数据及所述第二 位置数据， 获取 各个缺陷的当前位置数据； 基于所述各个缺陷的当前位置数据， 对所述待检测电路板的缺陷区域进行图像采集。 5.根据权利要求1 ‑4任一项所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述基准为所述待检测 电路板的角点。 6.根据权利要求4所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述第 一位置数据和所述第 二位 置数据所在的坐标系均以所述基准 为原点。 7.根据权利要求4所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷检测装置上设置有第 二 图像采集组件； 所述基于所述各个缺陷的当前位置数据， 对所述待检测电路板的缺陷区域 进行采集的步骤， 包括： 基于所述各个缺陷的当前位置数据， 计算第 二图像采集组件移动至缺陷区域的运动轨 迹； 控制所述第二图像采集组件按照所述 运动轨迹移动至所述 缺陷区域并进行图像采集。权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115524347 A 28.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷检测装置包括沿所述待 检测电路板的传输方向上依次设置的位置传感器和挡板； 所述采集所述待检测电路板的定位图像的步骤之前， 还 包括： 获取所述位置传感器的触发信号， 其中， 所述位置传感器能够在当所述待检测电路板 经过时产生所述触发信号； 响应所述触发信号， 控制所述挡板移动至预设位置以阻挡所述待检测电路板， 从而校 正所述待检测电路板的位置 。 9.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷数据包括所述待检测电 路板的上下板面的缺陷数据， 所述缺陷检测装置包括对应于所述待检测电路板的上下板面 设置的多个图像采集组件； 所述获取与所述 缺陷数据对应的缺陷图像的步骤 包括： 通过所述多个图像采集组件分别获取所述待检测电路板的上板面的缺陷图像和下板 面的缺陷图像。 10.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷检测装置上设置有第 二图像采集组件； 所述缺陷数据包括所述待检测电路板上若干缺陷的位置数据以及与所述 位置数据对应的缺陷区域的图形 数据； 所述基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据， 对所述待检测电路板的缺陷区域 进行图像采集的步骤， 包括： 根据所述图形 数据， 获取 所述第二图像采集组件的变焦系数； 基于所述变焦系数、 所述若干缺陷的位置数据和所述基准的当前位置数据， 控制所述 第二图像采集组件 对所述待检测电路板的缺陷区域进行图像采集。 11.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷检测装置上设置有用 于传输所述待检测电路板的辊轮模块； 所述基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据， 对所述待检测电路板的缺陷区域 进行采集的步骤之前， 还 包括： 当检测到所述待检测电路板达到所述辊轮模块的中间位置时， 控制所述辊轮模块调整 至固定状态， 以固定所述待检测电路板 。 12.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷检测装置上还设置有 辊轮模块、 第一位置传感器和第二位置传感器； 所述第一位置传感器靠近所述辊轮模块的 初始传输端设置， 所述第二 位置传感器靠 近所述辊轮模块的中间传输段设置； 所述基于所述缺陷数据和所述基准的当前位置数据， 对所述待检测电路板的缺陷区域 进行采集的步骤之前， 还 包括： 响应于所述待检测电路板经过所述第 一位置传感器的位置， 触发所述第 二位置传感器 进入工作状态； 检测是否在预设时间内接收到触发信号， 其中， 所述触发信号是所述第二位置传感器 响应所述待检测电路板经 过时产生的； 若未检测到所述触发信号， 则输出用于提 示所述辊轮模块故障的报警信号。 13.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷数据为另一种缺陷检 测设备对所述待检测电路板进行缺陷检测时得到的缺陷数据。权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115524347 A 3