(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210708851.6 (22)申请日 2022.06.21 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 陈龙　曹沿松　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 田茂虎 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/11(2017.01) G06N 3/04(2006.01) G06N 3/08(2006.01)G06V 10/80(2022.01) (54)发明名称 缺陷检测方法、 缺陷检测装置及计算机可读 存储介质 (57)摘要 本申请公开了一种缺陷检测方法、 缺陷检测 装置以及计算机可读存储介质， 该方法用于检测 印制电路板， 该方法包括： 获取待检测图像， 待检 测图像包括印制电路板的图像； 将待检测图像输 入预先训练的深度学习网络， 以获取深度学习网 络输出的缺陷检测 信息， 缺陷检测 信息至少包括 缺陷类型和/或缺陷位置； 将缺陷检测信息输入 缺陷过滤器， 以获取缺陷过滤器根据缺陷检测信 息输出的缺陷判定结果， 缺陷判定结果用于表征 缺陷检测信息中的缺陷是否为真实缺陷； 基于缺 陷检测信息和缺陷判定结果， 输出待检测图像的 缺陷检测结果。 上述方法， 能够检测出印制电路 板的待检测图像中的真实缺陷， 提高印制电路板 缺陷检测的准确性和便于后续印制电路板的修 复流程、 减少人力资源的消耗。 权利要求书2页 说明书13页 附图4页 CN 115249237 A 2022.10.28 CN 115249237 A 1.一种缺陷检测方法， 用于检测印制电路板， 其特 征在于， 所述 缺陷检测方法包括： 获取待检测图像， 所述待检测图像包括所述印制电路板的图像； 将所述待检测图像输入预先训练的深度学习网络， 以获取所述深度学习网络输出的缺 陷检测信息， 所述 缺陷检测信息 至少包括 缺陷类型和/或缺陷位置； 将所述缺陷检测信 息输入缺陷过滤器， 以获取所述缺陷过滤器根据所述缺陷检测信 息 输出的缺陷判定结果， 所述缺陷判定结果用于表征所述缺陷检测信息中的缺陷是否为真实 缺陷； 基于所述 缺陷检测信息和所述 缺陷判定结果， 输出 所述待检测图像的缺陷检测结果。 2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述将所述缺陷检测信 息输入缺陷过滤器， 以获取所述缺陷过滤器根据 所述缺陷检测 信息输出的缺陷判定结果之后， 还 包括： 基于所述 缺陷检测信息和缺陷判定结果， 获取 所述深度学习网络的误判信息； 基于所述 误判信息 重新训练所述深度学习网络 。 3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述基于所述缺陷检测信 息和所述缺陷判定结果， 输出所述待检测图像的缺陷检测结 果， 包括： 基于所述 缺陷判定结果， 获取 所述缺陷检测信息中误判为真实缺陷的误判缺陷； 基于所述 误判缺陷的缺陷信息对所述 缺陷检测信息进行误判修 正； 将所述误判修正后的缺陷检测信息作为所述待检测图像的缺陷检测结果输出。 4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述基于所述 误判缺陷的缺陷信息对所述 缺陷检测信息进行误判修 正， 包括： 基于所述 误判缺陷的缺陷信息获取误判缺陷的位置信息； 按照所述 误判缺陷的位置信息将所述 缺陷检测信息中相应位置的缺陷信息删除。 5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述将所述待检测图像输入预先训练 的深度学习网络， 以获取所述深度 学习网络输出 的缺陷检测信息， 包括： 将所述待检测图像输入所述 缺陷过滤器， 以获取 所述缺陷过滤器输出的缺陷区域； 基于所述 缺陷区域对所述待检测图像进行裁 剪， 得到待检测子图； 将所述待检测子图输入所述预先训练 的深度学习网络， 以获取所述深度 学习网络输出 的缺陷检测信息 。 6.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述将所述待检测图像输入预先训练 的深度学习网络， 以获取所述深度 学习网络输出 的缺陷检测信息， 包括： 将所述待检测图像输入所述缺陷过滤器， 以获取所述缺陷过滤器输出的待检测图像的 缺陷区域和非缺陷区域； 将所述待检测图像输入所述预先训练 的深度学习网络， 利用所述深度 学习网络按照第 一精度对所述待检测图像的缺陷区域进行检测， 按照第二精度对所述待检测图像的非缺陷 区域进行检测， 所述第一精度高于所述第二精度； 利用所述待检测图像的缺陷区域的检测结果， 以及所述待检测图像的非缺陷区域的检权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115249237 A 2测结果， 获取 所述缺陷检测信息 。 7.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特 征在于， 所述缺陷过滤器对所述印制电路板的电路元件及其常见变形结构进行预先训练和识 别。 8.一种缺陷检测装置， 用于印制电路板， 其特征在于， 所述缺陷检测装置包括获取模 块、 检测模块、 过 滤模块以及输出模块； 其中， 所述获取模块， 用于获取待检测图像， 所述待检测图像包括所述印制电路板的图像； 所述检测模块， 用于将所述待检测图像输入预先训练的深度学习 网络， 以获取所述深 度学习网络 输出的缺陷检测信息， 所述 缺陷检测信息 至少包括 缺陷类型和/或缺陷位置； 所述过滤模块， 用于将所述缺陷检测信息输入缺陷过滤器， 以获取所述缺陷过滤器根 据所述缺陷检测信息输出的缺陷判定结果， 所述缺陷判定结果用于表征所述缺陷检测信息 中的缺陷是否为真实缺陷； 所述输出模块， 用于基于所述缺陷检测信息和所述缺陷判定结果， 输出所述待检测图 像的缺陷检测结果。 9.一种缺陷检测装置， 其特征在于， 所述缺陷检测装置包括存储器和处理器， 所述存储 器用于存储程序数据， 所述处理器用于执行所述程序数据以实现如权利要求1 ‑7任一项所 述的缺陷检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质中存储有程序数 据， 所述程序数据在被处理器执行时， 用于执行如权利要求1 ‑7任一项所述的缺陷检测方 法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115249237 A 3