ICS29.030 CCSK14 中华人民共和国国家标准 GB/T43264—2023 永磁体表面磁场分布测试方法 Measuringmethodsofthesurfacemagneticfielddistributionfor permanentmagnets 2023-11-27发布 2024-06-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布前 言 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国电器工业协会提出。 本文件由全国电工合金标准化技术委员会(SAC/TC228)归口。 本文件起草单位:中国计量科学研究院、桂林电器科学研究院有限公司、宁波兴隆磁性技术有限公 司、福建省长汀金龙稀土有限公司、宁波可可磁业股份有限公司、三友联众集团股份有限公司、杭州科德 磁业有限公司、中国科学院宁波材料技术与工程研究所、宁波新材料测试评价中心有限公司、宁波松科 磁材有限公司、杭州象限科技有限公司、陕西斯瑞新材料股份有限公司、宁波美固力磁电有限公司、河北 工业大学、中国计量大学、宁波宁港永磁材料有限公司、浙江中杭新材料科技有限公司、宁波大缙华磁性 材料有限公司、宁波韵升股份有限公司、宁波招宝磁业有限公司、浙江松发复合新材料有限公司、明光三 友电力科技有限公司、东莞金坤新材料股份有限公司、天津三环奥纳科技有限公司、宁波鑫霖磁业有限 公司、浙江中科磁业股份有限公司、东阳富仕特磁业有限公司、重庆文童机电有限责任公司、宁波尼兰德 磁业股份有限公司、宁波华辉磁业有限公司、宁波鑫丰磁业有限公司、赣州市综合检验检测院、宁波盛事 达磁业有限公司、江西中石新材料有限公司、宁波伊玛磁业有限公司、宁波市磁性材料商会。 本文件主要起草人:贺建、崔得锋、张志高、黄可可、张久磊、冯伟、康如喜、丁月、孙颖莉、姜秋晓、 朱青、赵毅、杨平、郑孟军、王景芹、吴琼、周建斌、徐嘉诚、刘海音、彭彩彩、林建强、赵成威、彭五生、陈亮、 安海路、李国强、黄益红、张方远、陈曦、王海涛、钱勇、戴峤笠、谢健明、李文军、唐城城、应婴、吴玥臻、 赵浩融、黄岚霞、黄将仑、丁勇、郭艳。 ⅠGB/T43264—2023 永磁体表面磁场分布测试方法 1 范围 本文件描述了采用磁场探测器和磁强计测量永磁体表面磁场分布的方法,包括测试点的选择、测量 装置、试样、测试步骤及数据处理。 本文件适用于经各种磁化方式磁化的稀土铁硼、稀土钴、铝镍钴、永磁铁氧体等永磁体表面磁场分 布检测。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T1800.1 产品几何技术规范(GPS) 线性尺寸公差ISO代号体系 第1部分:公差、偏差和 配合的基础 GB/T2900.60—2002 电工术语 电磁学 JJF1059.1 测量不确定度评定与表示 3 术语和定义 GB/T2900.60—2002界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 永磁体极面 polarsurfaceofpermanentmagnet 永磁体磁极所在的面。 注:各向异性的永磁体一般为与取向方向垂直或相交的面;各向同性的永磁体一般为与充磁方向垂直或相交的面。 3.2 测试距离 testdistance 磁场探测器有效传感区的中心与测试面的垂直距离。 4 测试原理 采用磁场探测器(探头)、磁强计和记录设备测量并记录永磁体表面指定方向的磁场强度,从而得到 永磁体表面各测试点的磁场强度。 5 测试点选择 根据永磁体的几何形状和磁化方向确定测量轨迹,在测量轨迹上选取测试点。永磁体极面为平面 时的测试轨迹如图1~图5所示;永磁体极面为外圆周面或内圆周面时,在外(或内)圆周面上轴向Hi 位置,在整个360°圆周上按直径大小均布原则取若干点,测试点的示意图如图6~图8所示。 1GB/T43264—2023 标引说明: a———永磁体的长; b———永磁体的宽; 0———永磁体的几何中心点; Ai———测试点离纵轴的距离; Bj———测试点离横轴的距离。 图1 极面为方形时的测试点轨迹 标引说明: a———永磁体的长; b———永磁体的宽; 0———永磁体的几何中心点; Ai———测试点离纵轴的距离; Bj———测试点离横轴的距离。 图2 极面为多边形时的测试点轨迹 图1、图2中,根据需要可测量多个轨迹,轨迹可通过以下不等式得到: -a<Ai<a;-b<Bj<b (i,j=1,2,3,…,n) 标引说明: d———永磁体的直径; Ri———测试点的半径; 0———永磁体的几何中心点; Φj———测试点的极角。 图3 极面为圆形时的测试点轨迹 2GB/T43264—2023 图3中,根据需要可测量多个轨迹,轨迹可通过以下不等式得到: 0<Ri<d/2;-180°<Φj<180° (i,j=1,2,3,…,n) 标引说明: d———永磁体的直径; r———永磁体的内径; Ri———测试点的半径; 0———永磁体的圆心; Φj———测试点的极角。 图4 极面为圆环形时的测试点轨迹 标引说明: d———永磁体的外径; Ri———测试点的外径; 0———永磁体的圆心; Φj———测试点的极角。 图5 极面为扇形时的测试点轨迹 图4、图5中,根据需要可测量多个轨迹,轨迹可通过以下不等式得到: 0<Ri<d;-180°<Φj<180° (i,j=1,2,3,…,n) 注1:如有必要,测试轨迹和起始点由供需双方协商确认。 3GB/T43264—2023 标引说明: h———永磁体的高度; Hi———测试点的高度。 图6 辐向充磁圆环、圆柱的测试点轨迹 标引说明: h———永磁体的高度; Hi———测试点的高度。 图7 径向充磁单极圆环、圆柱的测试点轨迹 标引说明: h———永磁体的高度; Hi———测试点的高度。 图8 辐向充磁多极圆环、圆柱的测试点轨迹 根据需要可测量多个轨迹,轨迹可通过以下不等式得到: 0<Hi<h (i=1,2,3,…,n) 注2:如有必要,测试轨迹和起始点由供需双方协商确认。 所有测试点应均匀分布在轨迹上,磁场测试点数量应根据样品尺寸、极数而定,并充分考虑各特征 参数的测试精度要求,每毫米(直线距离或弧长)宜不少于1个点。 4GB/T43264—2023