(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211051583.1 (22)申请日 2022.08.31 (71)申请人 苏州知码芯信息科技有限公司 地址 215000 江苏省苏州市 常熟市经济技 术开发区四海路9号 (72)发明人 袁永斌　朱林　 (74)专利代理 机构 北京高航知识产权代理有限 公司 11530 专利代理师 王庞 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 7/13(2017.01) G06V 10/75(2022.01) G06V 10/80(2022.01) (54)发明名称 一种电源芯片质量检测方法及系统 (57)摘要 本发明公开了一种电源芯片质 量检测方法 及系统， 包括S1， 获取电源芯片的引脚的外观图 像； S2， 获取外观图像在RGB颜色 空间中的红色分 量的图像imgR、 绿色分量的 图像imgG和蓝色分量 的图像imgB； S3， 分别对imgR、 imgG、 imgB进行降 噪处理， 获得图像lwnsimgR、 lwnsimgG、 lwnsimgB； S4， 分别对lwnsimgR、 lwnsimgG、 lwnsimgB进行图像分割处理， 获得图像sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB； S5， 对sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB进行图像融合处理， 获得图像trgimg； S6， 对trgimg进行特征提取， 获得特征信息； S7， 基于特征信息判断电源芯片的引脚是否通过质 量检测。 本发 明在图像分割之前并没有进行图像 灰度化处理， 能够比灰度化处理保留更多的细 节 信息， 有效地提高了使用图像识别技术对电源管 理芯片的引脚进行检测的结果的准确性。 权利要求书2页 说明书8页 附图2页 CN 115359022 A 2022.11.18 CN 115359022 A 1.一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 包括： S1， 获取电源芯片的引脚的外观图像； S2， 获取外观图像在RGB颜色空间中的红色分量的图像imgR、 绿色分量的图像imgG和蓝 色分量的图像imgB； S3， 分别对imgR、 imgG、 imgB进行降噪处 理， 获得图像l wnsimgR、 l wnsimgG、 l wnsimgB； S4， 分别对lwnsimgR、 lwnsimgG、 lwnsimgB进行图像分割处理， 获得图像sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB； S5， 对sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB进行图像融合处 理， 获得图像t rgimg； S6， 对trgimg进行 特征提取， 获得 特征信息； S7， 基于特 征信息判断电源芯片的引脚是否通过质量检测。 2.根据权利要求1所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 所述S1包括： 使用工业相机获取电源芯片的引脚的外观图像。 3.根据权利要求2所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 所述S3包括： 对于图像I， I∈{imgR,imgG,imgB}， 降噪方式如下： 使用中值滤波算法分别对图像I中的每 个像素点进行降噪处 理， 获得图像midI； 根据设定的获取算法获取图像midI中的待处 理像素点的集 合U； 使用改进的双边滤波算法分别对集合U中的每个像素点进行降噪处理， 获得降噪后的 图像lwnsI。 4.根据权利要求3所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特征在于， 所述根据设定的获 取算法获取图像midI中的待处 理像素点的集 合U， 包括： 将像素点p ix在图像I中 的像素值记为 ， 将像素点p ix在图像midI中 的像素值记 为 ； 采用如下公式计算素点pix的变化系数： 式中， 表示变化系数， 表示预设的像素值变化标准 值； 判断 是否大于设定的变化系数阈值， 若是， 则将像 素点pix作为待处理像素点存 入集合U。 5.根据权利要求1所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 所述S4包括： 对图像J进行图像分割处 理的过程如下， J∈{l wnsimgR， l wnsimgG， l wnsimgB}： 将图像J分成多个面积相同的子图像； 对图像J进行边 缘检测， 获取边 缘像素点的集 合 ； 将包含 中的像素点的子图像存 入集合 ； 使用图像分割算法分别对 中的每个子图像进行图像分割处理， 获得前景像素点 的集合 ；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115359022 A 2将处于 中的像素点连接成的区域内部的像素点和 中的像素点组成 的图像作为对图像J进行图像分割处 理获得的图像。 6.根据权利要求5所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特征在于， 所述对图像J进行 边缘检测， 获取边 缘像素点的集 合 ， 包括： 使用Marr ‑Hildreth算法对图像J进行边缘检测， 获取边缘像素点的集合 。 7.根据权利要求1所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 所述S5包括： 分别计算sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB的自适应融合权 重 ； 将sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB中的像素点分别存入集合sgtimgRU、 sgtimgGU、 sgtimgBU， 获取sgtimgRU、 sgtimgGU、 sgtimgBU的交集un iU； 对于uniU中 的像素点app ix， 使用如下公式获取app ix在图像trgimg中 的像素值trgimg (appix)： 式中， 分别表示appix在 sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB中的像素值。 8.根据权利要求1所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 所述S6包括： 使用SUFR算法对t rgimg进行 特征提取， 获得 特征信息。 9.根据权利要求1所述的一种电源芯片质量检测方法， 其特 征在于， 所述S7包括： 将从图像trgimg中获取的特征信息与预设的缺陷类型的所对应的特征信息进行匹配， 若匹配成功， 则表 示电源芯片的引脚没有通过质量检测； 若匹配失败， 则表示电源芯片的引 脚通过质量检测。 10.一种电源芯片质量检测系统， 其特征在于， 包括拍摄模块、 分量图像获取模块、 降噪 模块、 图像分割模块、 图像融合模块、 特 征提取模块和质量检测模块； 拍摄模块用于获取电源芯片的引脚的外观图像； 分量图像获取模块用于获取外观图像在RGB颜色空间中的红色分量的图像imgR、 绿色 分量的图像imgG和蓝色 分量的图像imgB； 降噪模块用于分别对imgR、 imgG、 imgB进行降噪处理， 获得图像lwnsimgR、 lwnsimgG、 lwnsimgB； 图像分割模块用于分别对lwnsimgR、 lwnsimgG、 lwnsimgB进行图像分割处理， 获得图像 sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB； 图像融合模块用于对sgtimgR、 sgtimgG、 sgtimgB进行图像融合处 理， 获得图像t rgimg； 特征提取模块用于对t rgimg进行 特征提取， 获得 特征信息； 质量检测模块用于基于特 征信息判断电源芯片的引脚是否通过质量检测。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115359022 A 3