(19)中华 人民共和国 国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202111660130.4
(22)申请日 2021.12.3 0
(71)申请人 重庆交通大 学
地址 400074 重庆市南岸区学府大道6 6号
(72)发明人 黄大荣 唐敏 赵宁 张宇
许子仪 张振源 米波
(74)专利代理 机构 重庆博凯知识产权代理有限
公司 50212
代理人 黄河
(51)Int.Cl.
G06F 30/27(2020.01)
G06N 3/04(2006.01)
G06N 3/08(2006.01)
G06F 119/02(2020.01)
G06F 119/08(2020.01)
(54)发明名称
相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析方
法
(57)摘要
本发明涉及雷达可靠性分析技术领域, 具体
涉及一种相控阵雷达频综模块的温度可靠性分
析方法, 包括: 基于相控阵雷达频综模块构建对
应的热误差模 型; 基于热误差模 型的隐式性能函
数构建对应的DBN函数模型, 并训练DBN函数模
型; 使用训练后的DBN函数模型代替热误差模型
的隐式性能函数; 通过DBN函数模型结合蒙特卡
洛法对热误差模 型进行温度可靠性分析。 本发明
的温度可靠性分析方法能够适应于相控阵雷达
频综模块的隐式性能函数, 并能够保证控阵雷达
频综模块的温度可靠性分析准确性。
权利要求书2页 说明书7页 附图3页
CN 114330133 A
2022.04.12
CN 114330133 A
1.相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析 方法, 其特 征在于, 包括以下步骤:
S1: 基于相控阵雷达频综模块构建对应的热误差模型;
S2: 基于热误差模型的隐式性能函数构建对应的DBN 函数模型, 并训练DBN 函数模型;
S3: 使用训练后的DBN 函数模型代替热误差模型的隐式性能函数;
S4: 通过DBN 函数模型 结合蒙特卡洛法对热误差模型进行温度可靠性分析。
2.如权利要求1所述的相控阵雷达频综模块的温度 可靠性分析方法, 其特征在于, 步骤
S4中, 通过如下步骤进行温度可靠性分析:
S401: 将随机数指令 输入热误差模型, 以产生对应的温度随机数组;
S402: 将温度随机数组的各个随机变量带入DBN 函数模型, 生成对应的性能函数 数组;
S403: 统计性能函数 数组中大于 0的个数x;
S404: 通过公式
计算热误差模型的温度可靠度, 以完成 温度可靠性分析;
式中: Px表示温度可靠度; m ′+n′表示温度随机数组的数量; R表示热误差模型的特征因
子。
3.如权利要求1所述的相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析方法, 其特征在于: DBN
函数模型包括依次顺序连接的四层RBM层以及一层BP神经网络; 最后一层RBM层的输出作为
BP神经网络的输入。
4.如权利要求3所述的相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析方法, 其特征在于: DBN
函数模型的输出 是对应隐式性能函数的指示 函数值, 其包括0和1两类。
5.如权利要求3所述的相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析方法, 其特征在于: DBN
函数模型的RBM层表示 为
确定参数h={a,W,b}, 得到热误差模型的联合 概率分布
对联合概率分布进行积分, 得到如下的条件概 率:
式中: Eθ(v,h)表示给定状态(v,h)的能量函数; ai表示隐藏层第i个神经元的偏置; hi表
示第i个隐藏 成神经元向量; Wij表示隐含层第i个神经元和可见层第 j个神经元的权值; bj表
示可见层第j个神经元的偏置; vj表示第j个可见层神经元向量; Pθ(v,h)表示状态(v,h)的联
合概率密度; Zθ为归一化因子; Pθ(v)表示状态v的条件概率; Pθ(h)表示状态h的条件概率; Pθ
(h|v)表示在状态v发生的情况 下, 状态h发生的条件概 率。
6.如权利要求3所述的相控阵雷达频综模块的温度 可靠性分析方法, 其特征在于, 步骤
S2中, 通过如下步骤训练DBN 函数模型:权 利 要 求 书 1/2 页
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2S201: 初始化DBN 函数模型的参数, 将训练数据输入DBN 函数模型;
S202: 单独训练DBN 函数模型的各个RBM层, 并使用梯度下降法迭代更新RBM层的参数;
S203: 基于反向传播 算法对DBN 函数模型的参数进行调整;
S204: 更新DBN 函数模型的权值, 以完成DBN 函数模型的训练。
7.如权利要求6所述的相控阵雷达频综模块的温度 可靠性分析方法, 其特征在于: 步骤
S201中, 训练数据包括20 00组随机样本, 每组随机样本包括 Q、 ξ和 λ三个参数;
训练数据表示 为
式中:
表示训练的平均残差; ERes(n,m,i)表示预测残差值; Q、 ξ和 λ表示热特性参
数值; n、 m、 i表示从热 特性参数值中的取值; P表示测试的次数; J为每次测试点的点数。
8.如权利要求6所述的相控阵雷达频综模块的温度 可靠性分析方法, 其特征在于: 步骤
S202中, 更新RBM层参数的梯度如下:
式中: Pθ(v)表示状态v的条件概率;
表示基于输入分布变量的期望,
表示概率
密度下的期望 。
9.如权利要求1所述的相控阵雷达频综模块的温度 可靠性分析方法, 其特征在于: 步骤
S2中, 热误差模型的性能函数表示 为
式中:
表示训练的平均残差;
表示平均残差 。
10.如权利要求1所述的相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析方法, 其特征在于: 步
骤S1中, 构建热误差模型时, 基于 输入的M个温度数据xk(k=1,2,…M), 构造样本矩阵如下:
式中: xij表示第i组温度数据中的第j个 变量的值;
选择高斯径向基为核函数
计算K的特征值λ1, λ2,…λn和特征向量v1,v2,…vn; 式中: x表示仿真的温度样本数据; y
表示实测的温度数据; σ 表示 函数的宽度参数, 控制了函数的径向作用范围;
确定温度t, 使得温度特 征信息的覆盖率达 到85%。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 相控阵雷达频综模块的温度可靠性分析方法
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