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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210444617.7 (22)申请日 2022.04.26 (71)申请人 上海商汤智能科技有限公司 地址 200233 上海市徐汇区桂平路391号3 号楼1605A室 (72)发明人 宗泽亮 刘华凯 吴佳飞 (74)专利代理 机构 广州三环 专利商标代理有限 公司 44202 专利代理师 董文俊 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/73(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 5/50(2006.01) (54)发明名称 缺陷检测方法、 装置、 电子设备及存 储介质 (57)摘要 本公开实施例公开了一种缺陷检测方法、 装 置、 电子设备及存储介质, 该方法包括: 获取待检 测物体在不同光照方向下的图像, 得到多张第一 图像; 对所述多张第一图像进行图像合成, 得到 第二图像; 对所述第二图像进行图像增强, 得到 第三图像; 对 所述第三图像中所述待检测物体的 缺陷进行识别, 得到所述待检测物体的缺陷区 域。 通过对待检测物体在不同光照方向下的图像 进行图像处理, 再识别缺陷, 可 以提高缺陷检测 的精度。 权利要求书2页 说明书14页 附图6页 CN 114841946 A 2022.08.02 CN 114841946 A 1.一种缺陷检测方法, 其特 征在于, 包括: 获取待检测物体在不同光照方向下的图像, 得到多张第一图像; 对所述多张第一图像进行图像合成, 得到第二图像; 对所述第二图像进行图像增强, 得到第三图像; 对所述第三图像中所述待检测物体的缺陷进行识别, 得到所述待检测物体的缺陷区 域。 2.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述对所述第 三图像中所述待检测物体的 缺陷进行识别, 得到所述待检测物体的缺陷区域, 包括: 对所述第三图像中所述待检测物体的缺陷进行识别, 得到预提取区域; 对所述预提取区域对应的图像进行 校验; 响应于所述预提取区域对应的图像校验通过, 将所述预提取区域作为所述待检测物体 的缺陷区域。 3.根据权利要求2所述的方法, 其特征在于, 所述第三图像包括二值图像, 所述对所述 第三图像中所述待检测物体的缺陷进行识别, 得到预提取区域, 包括: 对所述第三图像中的所述待检测物体进行识别, 得到第一物体区域图像; 对所述第一物体区域图像进行像素 取反, 得到第二物体区域图像; 对所述第二物体区域图像中所述待检测物体的缺陷进行识别, 得到预提取区域。 4.根据权利要求2所述的方法, 其特征在于, 所述对所述预提取区域对应的图像进行校 验, 包括: 获取所述预提取区域对应的图像的几何特 征和灰度特 征; 响应于所述几何特征满足第一条件, 且所述灰度特征满足第二条件, 确定所述预提取 区域对应的图像校验通过。 5.根据权利要求1 ‑4中任一项所述的方法, 其特征在于, 所述第一图像包括至少两个区 块图像, 所述对所述多张第一图像进行图像合成, 得到第二图像, 包括: 获取所述区块图像的灰度值; 将所述多 张第一图像中, 与 所述待检测物体的相对位置相同的所述区块图像划分为一 个区块图像集; 基于所述 区块图像集中所述 区块图像的灰度值的最大值, 对所述多 张第一图像进行图 像合成, 得到第二图像。 6.根据权利要求1 ‑5中任一项所述的方法, 其特征在于, 所述对所述第 二图像进行图像 增强, 得到第三图像, 包括: 对所述第二图像进行对比度增强, 得到第四图像; 对所述第四图像进行二 值化处理, 得到第三图像。 7.根据权利要求6所述的方法, 其特征在于, 所述对所述第二图像进行对比度增强, 得 到第四图像, 包括: 对所述第二图像进行直方图均衡化处 理, 得到第四图像。 8.一种缺陷检测装置, 其特 征在于, 包括: 获取单元, 用于获取待检测物体在不同光照方向下图像, 得到多张第一图像; 图像合成单 元, 用于对所述多张第一图像进行图像合成, 得到第二图像;权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 114841946 A 2图像增强单 元, 用于对所述第二图像进行图像增强, 得到第三图像; 缺陷识别单元, 用于对所述第三图像中所述待检测物体的缺陷进行识别, 得到所述待 检测物体的缺陷区域。 9.一种电子设备, 其特征在于, 包括处理器和存储器, 其中, 所述存储器用于存储计算 机可读指 令, 所述处理器用于调用所述存储器中存储的指 令, 以执行权利要求 1‑7中任一项 所述的方法。 10.一种计算机可读存储介质, 其特征在于, 所述计算机可读存储介质中存储有计算机 程序, 所述计算机程序包括程序指令, 所述程序指 令当被处理器执行时, 使所述处理器执行 权利要求1 ‑7中任一项所述的方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 114841946 A 3
专利 缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
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