(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221220899.4 (22)申请日 2022.05.19 (73)专利权人 日月新半导体 （苏州） 有限公司 地址 215021 江苏省苏州市苏州工业园区 苏虹西路18 8号 (72)发明人 吴利俊　 (74)专利代理 机构 北京律盟知识产权代理有限 责任公司 1 1287 专利代理师 林斯凯 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/956(2006.01) (54)实用新型名称 集成电路外观检测装置 (57)摘要 一种集成电路外观检测装置。 所述集 成电路 外观检测装置包括接收部。 所述接受部包括接收 端子及缓冲件。 所述缓冲件设置在所述接收端子 之上。 所述缓冲件缓冲件上开设有承载区域， 所 述承载区域经配 置以接收集成电路产品。 权利要求书1页 说明书5页 附图3页 CN 217688507 U 2022.10.28 CN 217688507 U 1.一种集成电路外观检测装置， 其特 征在于， 包括： 接收部， 包括接收端子及缓冲件， 所述缓冲件设置在所述接收端子之上， 所述缓冲件上 开设有承载区域， 所述承载区域经配置以接收集成电路产品。 2.如权利要求1所述的集成电路外观检测装置， 其特征在于， 所述承载区域为缓冲件内 开设的镂空区域。 3.如权利要求2所述的集成电路外观检测装置， 其特征在于， 所述缓冲件内侧包括具有 倒角结构的边。 4.如权利要求3所述的集成电路外观检测装置， 其特征在于， 所述倒角结构 从顶面朝所 述镂空区域的中心斜 面向下。 5.如权利要求2所述的集成电路外观检测装置， 其特征在于， 所述缓冲件内侧相邻 两边 之间包括凹槽结构。 6.如权利要求1所述的集成电路外观检测装置， 其特征在于， 所述缓冲件的硬度小于所 述接收端子的硬度。 7.如权利要求5所述的集成电路外观检测装置， 其特 征在于， 所述缓冲件 包括橡胶。 8.如权利要求2所述的集成电路外观检测装置， 其特征在于， 所述镂 空区域暴露所述接 收端子的上表面， 所述上表面 开设有真空吸孔。 9.如权利要求1所述的集成电路外观检测装置， 其特 征在于， 还 包括： 检测组件， 经配置以判断所述 集成电路产品在所述接收端子的定向。 10.如权利要求1所述的集成电路外观检测装置， 其特 征在于， 还 包括： 驱动组件， 连接 至所述接收部， 经配置以驱动所述接收部进行转动。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217688507 U 2集成电路外观检测装 置 技术领域 [0001]本申请是有关于一种装置， 详细来说， 是有关于一种集成电路外观检测装置 。 背景技术 [0002]目前的集成电路进料系统中， 当集成电路产品进入进料轨道后， 会有外观检测装 置接收集成电路产品， 并且判断集成电路产品在外观检测装置中的定 向， 以确定是否需要 翻转集成电路产品。 然而， 产品从轨道进入外观检测装置时没有相关保护措施， 容易造成产 品碰撞外观检测装置 造成产品或外观检测装置的损伤。 实用新型内容 [0003]有鉴于此， 本申请提出一种集成电路外观检测装置来 解决上述问题。 [0004]依据本申请的一实施例， 提出一种集成电路外观检测装置。 所述集成电路外观检 测装置包括接 收部。 所述接 收部包括接 收端子及缓冲件。 所述缓冲件设置在所述接 收端子 之上。 所述缓冲件上开设有承载区域， 所述承载区域经配置以接收集成电路产品。 [0005]依据本申请的一实施例， 所述承载区域 为缓冲件内开设的镂空区域 [0006]依据本申请的一实施例， 所述缓冲件内侧包括具有倒角结构的边。 [0007]依据本申请的一实施例， 所述倒角结构从顶面朝所述镂空区域的中心斜 面向下。 [0008]依据本申请的一实施例， 所述缓冲件内侧相邻两边之间包括凹槽结构。 [0009]依据本申请的一实施例， 所述缓冲件的硬度小于所述接收端子的硬度。 [0010]依据本申请的一实施例， 所述缓冲件 包括橡胶。 [0011]依据本申请的一实施例， 所述镂空区域暴露所述接收端子 的上表面， 所述上表面 开设有真空吸孔。 [0012]依据本申请的一实施例， 所述集成电路外观检测装置还包括检测组件。 所述检测 组件经配置以判断所述 集成电路产品在所述接收端子的定向。 [0013]依据本申请的一实施例， 所述集成电路外观检测装置还包括驱动组件。 所述驱动 组件连接 至所述接收部 。 所述驱动组件经配置以驱动所述接收部进行转动。 [0014]通过本申请提出的集成电路外观检测装置可 具有以下有益效果： [0015](1)集成电路产品放置于缓冲件中， 可避免集成电路产品直接接触接收端子而发 生的碰撞事故； [0016](2)缓冲件作为单独的部件， 便 于后期维护更 换； [0017](3)降低品质异常发生的概 率， 进而提高生产效率、 提高单位时间的产能。 附图说明 [0018]附图是用来提供对本申请的进一步理解， 并且构成说明书的一部分， 与下面的具 体实施方式一 起用于解释本申请， 但并不构成对本申请的限制。 在附图中： [0019]图1演示依据本申请一实施例的集成电路外观检测装置的方块 示意图。说　明　书 1/5 页 3 CN 217688507 U 3